大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

應(yīng)用范圍■光學(xué)薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學(xué)材料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強(qiáng)誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN,STN)

什么是液晶分子預(yù)傾角以及液晶分子預(yù)傾角對(duì)電光特性的影響，說明了精準(zhǔn)測量液晶分子預(yù)傾角對(duì)現(xiàn)有液晶顯示器生產(chǎn)和進(jìn)一步研究液晶顯示技術(shù)有著重要的意義。緊接著文章對(duì)現(xiàn)有的液晶分子預(yù)傾角測量方法進(jìn)行了概述，并且給出了幾種創(chuàng)新性的測量方法。 晶體旋轉(zhuǎn)法是目前廣泛使用的方法，它測試精度高，測試速度快，得到人們的認(rèn)可。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動(dòng)大型Ｘ－Ｙ平臺(tái)以及偏光光學(xué)系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。通過多折射位相差（RE.）來計(jì)算液晶封入后的液晶基板的cellgap值，測定精度高。