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我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。如果焊球形狀不端正,有歪扭現(xiàn)象,說(shuō)明溫度不夠,焊接不充分,焊料再流動(dòng)時(shí)沒(méi)有充分的發(fā)揮自定位效應(yīng)的作用。
檢測(cè)方法/電子元器件
電阻器
1 固定電阻器的檢測(cè)。
A 將兩表筆(不分正負(fù))分別與電阻的兩端引腳相接即可測(cè)出實(shí)際電阻值。為了提高測(cè)量精度,應(yīng)根據(jù)被測(cè)電阻標(biāo)稱值的大小來(lái)選擇量程。由于歐姆擋刻度的非線性關(guān)系,它的中間一段分度較為精細(xì),因此應(yīng)使指針指示值盡可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%~80%弧度范圍內(nèi),以使測(cè)量更準(zhǔn)確。根據(jù)電阻誤差等級(jí)不同。讀數(shù)與標(biāo)稱阻值之間分別允許有±5%、±10%或±20%的誤差。如不相符,超出誤差范圍,則說(shuō)明該電阻值變值了。另外,由于精細(xì)間距QFP器件對(duì)組裝工藝要求嚴(yán)格,使其應(yīng)用受到了限制,為此美國(guó)一些公司就把注意力放在開(kāi)發(fā)和應(yīng)用比QFP器件更優(yōu)越的BGA器件上。
B 注意:測(cè)試時(shí),特別是在測(cè)幾十kΩ以上阻值的電阻時(shí),手不要觸及表筆和電阻的導(dǎo)電部分;被檢測(cè)的電阻從電路中焊下來(lái),至少要焊開(kāi)一個(gè)頭,以免電路中的其他元件對(duì)測(cè)試產(chǎn)生影響,造成測(cè)量誤差;據(jù)國(guó)外一些印刷電路板制造技術(shù)資料反映,BGA器件在使用常規(guī)的SMT工藝規(guī)程和設(shè)備進(jìn)行組裝生產(chǎn)時(shí),能夠始終如一地實(shí)現(xiàn)缺陷率小于20(PPM),而與之相對(duì)應(yīng)的器件,例如QFP,在組裝過(guò)程中所形成的產(chǎn)品缺陷率至少要超過(guò)其10倍。色環(huán)電阻的阻值雖然能以色環(huán)標(biāo)志來(lái)確定,但在使用時(shí)1好還是用萬(wàn)用表測(cè)試一下其實(shí)際阻值。
我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。常指電器、無(wú)線電、儀表等工業(yè)的某些零件,如電容、晶體管、游絲、發(fā)條等。
電感器、變壓器
1 色碼電感器的的檢測(cè) 將萬(wàn)用表置于R×1擋,紅、黑表筆各接色碼電感器的任一引出端,此時(shí)指針應(yīng)向右擺動(dòng)。根據(jù)測(cè)出的電阻值大小,可具體分下述三種情況進(jìn)行鑒別:
A 被測(cè)色碼電感器電阻值為零,其內(nèi)部有短路性故障。
B 被測(cè)色碼電感器直流電阻值的大小與繞制電感器線圈所用的漆包線徑、繞制圈數(shù)有直接關(guān)系,只要能測(cè)出電阻值,則可認(rèn)為被測(cè)色碼電感器是正常的。
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再流焊接
設(shè)置焊接溫度可根據(jù)器件的尺寸,PCB的厚度等具體情況設(shè)置,BGA的焊接溫度與傳統(tǒng)SMD相比,要高出15度左右。
檢驗(yàn)
BGA的焊接質(zhì)量檢驗(yàn)需要X光或超聲波檢查設(shè)備,在沒(méi)有檢查設(shè)備的的情況下,可通過(guò)功能測(cè)試判斷焊接質(zhì)量,也可憑經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行檢查。把焊好的BGA的表面組裝板舉起來(lái),對(duì)光平視BGA四周,觀察是否透光、BGA四周與PCB之間的距離是否一致、觀察焊膏是否完全融化、焊球的形狀是否端正、焊球塌陷程度等。如果不透光,說(shuō)明有橋接或焊球之間有焊料球;如果焊球形狀不端正,有歪扭現(xiàn)象,說(shuō)明溫度不夠,焊接不充分,焊料再流動(dòng)時(shí)沒(méi)有充分的發(fā)揮自定位效應(yīng)的作用;CCBGA(ceramiccolumnBGA,陶瓷柱狀封裝的BGA)。焊球塌陷程度:塌陷程度與焊接溫度、焊膏量、焊盤(pán)大小有關(guān)。在焊盤(pán)設(shè)計(jì)合理的情況下,再流焊后BGA底部與PCB之間距離比焊前塌陷1/5-1/3屬于正常。如果焊球塌陷太大,說(shuō)明溫度過(guò)高,容易發(fā)生橋接。如果BGA四周與PCB之間的距離是不一致說(shuō)明四周溫度不均勻。
我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。JEDEC(電子器件工程聯(lián)合會(huì))(JC-11)的工業(yè)部門(mén)制定了BGA封裝的物理標(biāo)準(zhǔn),BGA與QFD相比的最z大優(yōu)點(diǎn)是I/O引線間距大,已注冊(cè)的引線間距有1。
BGA器件的結(jié)構(gòu)可按焊點(diǎn)形狀分為兩類:球形焊點(diǎn)和校狀焊點(diǎn)。BGA技術(shù)的出現(xiàn)是IC器件從四邊引線封裝到陣列焊點(diǎn)封裝的一大進(jìn)步,它實(shí)現(xiàn)了器件更小、引線更多,以及優(yōu)良的電性能,另外還有一些超過(guò)常規(guī)組裝技術(shù)的性能優(yōu)勢(shì)。這些性能優(yōu)勢(shì)包括高密度的I/O接口、良好的熱耗散性能,以及能夠使小型元器件具有較高的時(shí)鐘頻率。1光學(xué)顯微鏡分析技術(shù)2紅外分析技術(shù)3聲學(xué)顯微鏡分析4液晶熱點(diǎn)檢測(cè)技術(shù)5光輻射顯微分析技術(shù)6微分析技術(shù)。