CellScale細(xì)胞單軸壓縮刺激系統(tǒng)MCTX002

ellScale細(xì)胞單軸壓縮刺激系統(tǒng)MCTX002

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細(xì)胞單軸壓縮刺激儀系統(tǒng)

高通量單軸壓縮刺激

細(xì)胞單軸壓縮刺激系統(tǒng)可以在6個(gè)獨(dú)立的孔中單軸壓縮三維樣本。

CellScale公司細(xì)胞單軸壓縮刺激系統(tǒng)MCTX001

The MechanoCulture 產(chǎn)品組允許研究人員在力學(xué)刺激環(huán)境中培養(yǎng)細(xì)胞。 這些培養(yǎng)系統(tǒng)的配置支持使用多種柔性底物和支架的單次或平行測(cè)試。 控制器允許獨(dú)立于PC執(zhí)行用戶定義的操作規(guī)程。在壓縮刺激期間，記錄力-位移數(shù)據(jù)以便確定每個(gè)樣品的剛度分布隨著時(shí)間變化的函數(shù)。 孔板經(jīng)過高度拋光，以便在安裝過程中以及整個(gè)測(cè)試過程中目視確認(rèn)適當(dāng)?shù)臉悠芳虞d量。

Cellscale細(xì)胞壓縮系統(tǒng)完整說明-測(cè)試方法學(xué)

多相測(cè)試周期

為了適當(dāng)?shù)貦C(jī)械刺激/信號(hào)細(xì)胞，通常需要在測(cè)試過程中施加一個(gè)以上的負(fù)載幅度或頻率。

階段，周期和測(cè)試序列

如下圖所示，每次施加和釋放樣本稱為測(cè)試循環(huán)。 相同的測(cè)試周期可以重復(fù)多次以達(dá)到某個(gè)目標(biāo)。 這稱為測(cè)試集。 后，一個(gè)測(cè)試序列由多個(gè)測(cè)試集組成。

上面的示例描述了以下內(nèi)容：

?整個(gè)圖顯示了完整的測(cè)試序列。

?在該序列中，有兩個(gè)測(cè)試集：個(gè)測(cè)試集對(duì)樣本進(jìn)行預(yù)處理；第二個(gè)測(cè)試集對(duì)樣本進(jìn)行預(yù)處理。 第二組對(duì)樣本執(zhí)行實(shí)際測(cè)試。

?在組（預(yù)處理）中，執(zhí)行了兩個(gè)相同的測(cè)試周期，以使樣品達(dá)到令人滿意的體內(nèi)狀態(tài)。

?后，第二組（測(cè)試）由三個(gè)周期組成。

Cellscale細(xì)胞壓縮系統(tǒng)完整說明-測(cè)試單位

測(cè)試相：小的測(cè)試單位

測(cè)試相是測(cè)試規(guī)范的小單位。 一個(gè)周期內(nèi)有四個(gè)階段。 每個(gè)階段都有特定的目的：

壓縮-在“壓縮”階段，將變形施加到樣本上。

保持-變形可以保持給定的持續(xù)時(shí)間。

恢復(fù)-恢復(fù)階段是在壓縮階段所施加的變形被消除的時(shí)間。

休息-后，休息階段是一個(gè)周期結(jié)束與下一個(gè)周期開始之間的時(shí)間

MechanoCulture TX軟件用于通過包含測(cè)試序列的階段，周期和設(shè)置對(duì)設(shè)備進(jìn)行編程。 它還用于設(shè)備生成的測(cè)試數(shù)據(jù)。 屏幕布局如下所示：

主窗口的“測(cè)試參數(shù)”部分顯示了當(dāng)前的測(cè)試協(xié)議。 錯(cuò)誤和其他信息顯示在消息窗口部分。

Cellscale細(xì)胞壓縮系統(tǒng)完整說明-修改測(cè)試參數(shù)

從“硬件”菜單中，選擇“程序”，或按工具欄上的“程序”按鈕。 要對(duì)MechanoCulture TX設(shè)備進(jìn)行編程，必須將其連接到計(jì)算機(jī)的USB端口并連接電源。要查看設(shè)備上當(dāng)前編程的測(cè)試序列，請(qǐng)從“硬件”菜單中選擇“讀取”或按工具欄上的“讀取”按鈕。

修改測(cè)試參數(shù)

您可以通過單擊“測(cè)試參數(shù)規(guī)范”表中的一行，然后按“編輯集”按鈕（或雙擊該行）來選擇和修改參數(shù)集。 這樣做時(shí)，將出現(xiàn)“設(shè)置參數(shù)編輯器”對(duì)話框。

測(cè)試參數(shù)控制壓縮幅度，測(cè)試每個(gè)部分的時(shí)間，重復(fù)次數(shù)和數(shù)據(jù)頻率。