如產品內有熱產生，但沒有熱傳輸到周圍空氣中，則產品溫度將不斷上升。實際上，產品所產生的熱是不斷向周圍環(huán)境空氣發(fā)散的，后，產品所產生的熱與耗散在周圍冷卻空氣中的熱相平衡，使產品溫度達到穩(wěn)定。高低溫環(huán)境試驗箱又名可稱“高低溫試驗箱”，是一種專業(yè)測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的各項性能指標。只有當環(huán)境溫度上升(或下降)時，產品內部的溫度才會隨著進一步的上升(或下降).直至達到新的平衡為止。

   對于這種情形，基準環(huán)境溫度應這樣來確定，使能得到簡單而又重現得好的熱傳輸條件。由于熱傳輸是由對流、輻射和傳導三種不同方式來進行的，所以必須對每-種方式分別而又同時獲得明確的規(guī)定條件。

   若是多個試驗樣品在同一高低溫試驗箱（室）進行高溫試驗時，就應保證所有試驗樣品都處在同一環(huán)境溫度下，并具有相同的安裝條件。但在進行低溫試驗時，則沒有必要區(qū)分單個試驗樣品和多個試驗樣品時的情況。

   在現有條件下高低溫循環(huán)老化試驗篩選度不高，能激發(fā)出的潛在缺陷數量有限。為了充分發(fā)揮高低溫循環(huán)老化試驗的效能，應提高對產品的測試能力，即需要將高低溫循環(huán)老化試驗激發(fā)出的所有潛在缺陷檢測出來，確定故障發(fā)生的部位，及時對插件進行更換和修復。

1、提高測試精度    由于高低溫循環(huán)老化試驗篩選度不高，造成某些故障可能處于臨界狀態(tài)，需要測試設備具有較高的精度才能判斷出某些參數的細微變化。

   2、具備故障定位能力    在非常溫，特別是低溫情況下出現故障時，由于人工無法對產品進行操作，難以判斷故障所在部位，而該故障很有可能在常溫時又恢復正常，因此要求測試設備有一定的故障定位能力，能根據測試數據自動判斷故障發(fā)生部位，即哪塊插件故障，幫助試驗人員及時處理。c被試產品外廓表面距試驗箱壁的距離至少應保持100-150mm，（推薦選用150mm）。

   3、具備自動測試、記錄能力    由于高低溫循環(huán)老化試驗是長時間連續(xù)進行的，需要測試設備能按試驗要求自動測試、自動記錄測試數據和結果，便于試驗和管理人員了解試驗情況，收集試驗數據。

   4、具備非常溫狀態(tài)時的故障插件修復能力    在高低溫循環(huán)老化試驗中發(fā)現插件故障，應迅速將該插件修復，再插入系統(tǒng)中繼續(xù)高低溫循環(huán)老化試驗。而較小溫度變化率具有降低試驗箱循環(huán)風速，使試驗箱內部溫場更穩(wěn)定、減小溫度梯度的特點，因此更適合在高低溫能力驗證測量中選取。由于某些插件的故障在常溫下表現不出，僅在非常溫的某種狀態(tài)下才能表現出來，因此用于插件故障查找、修復的測試設備必須具備非常溫下插件故障檢測和修復能力。

　高低溫濕熱試驗箱濕度體系：濕度體系分為加濕和除濕兩個子體系。 　　

1、加濕原理一般選用蒸汽加濕法，行將低壓蒸汽直接注入試驗空間加濕。這種加濕方法加濕才能，速度快，加濕控制，尤其在降溫時簡單完結強制加濕。 　　

2、除濕原理有兩種：機械制冷除濕和單調除濕。 　　

a、機械制冷除濕的除濕原理是將空氣冷卻到溫度以下，使大于飽和含濕量的水汽凝集分出，這樣就降低了濕度。市場的試驗箱大多選用此除濕方法。 　　

b、單調器除濕是運用氣泵將試驗箱內的空氣抽出，并將單調的空氣注入，一起將濕空氣送入可循環(huán)運用的單調進行單調，單調完后又送入試驗箱內，如此反復循環(huán)進行除濕?，F在大部分歸納試驗箱選用前一種除濕方法法，后一種的除濕方法，可以使溫度達到0℃一下。3、具備自動測試、記錄能力由于高低溫循環(huán)老化試驗是長時間連續(xù)進行的，需要測試設備能按試驗要求自動測試、自動記錄測試數據和結果，便于試驗和管理人員了解試驗情況，收集試驗數據。適用于有特殊要求的場合，但費用較貴。主張客戶依據公司預算和實踐試驗需求要求廠家配備適宜的除濕方法。

高低溫試驗機滿足標準：性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法 GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法GJB150.9-1986《設備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》 GJB4.5-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》 GJB4.6-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》GJB367.2-1987《通信設備通用技術條件環(huán)境試驗方法》411 濕熱試驗 GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗 GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》 GB/T5170.5-96《濕熱試驗設備》 GB10592-93《高、低溫試驗箱技術條件》 GB10586-93《濕熱試驗箱技術條件》