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針對(duì)高低溫能力驗(yàn)證,根據(jù)多年實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),試驗(yàn)箱溫度變化率大小及樣品或感溫探頭在試驗(yàn)箱的放置位置將對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生直接影響,甚至?xí)幸蜻x擇不當(dāng)而造成結(jié)果不滿意的情況。
在測(cè)量過(guò)程中,試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度在持續(xù)變化,溫場(chǎng)效果和溫度梯度會(huì)對(duì)樣品動(dòng)作溫度值的讀取產(chǎn)生較大影響,可能造成試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度與實(shí)際動(dòng)作溫度不完全一致,溫變率越大,這種不一致性會(huì)更高。1-89(IEC68-2-1)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB2423。而較小溫度變化率具有降低試驗(yàn)箱循環(huán)風(fēng)速,使試驗(yàn)箱內(nèi)部溫場(chǎng)更穩(wěn)定、減小溫度梯度的特點(diǎn),因此更適合在高低溫能力驗(yàn)證測(cè)量中選取。
高低溫能力驗(yàn)證的參考標(biāo)準(zhǔn)為GB/T 2423.1-2008和GB/T 2423.2-2008,標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的溫度變化率為不超過(guò)1℃/min。文獻(xiàn)[3]中也明確指出多個(gè)實(shí)驗(yàn)室能力驗(yàn)證結(jié)果不滿意的很大原因是溫度變化率超過(guò)了規(guī)定要求值。
例如在10℃的時(shí)候可模擬的濕度范圍為35%—80%RH,35℃——85℃的時(shí)候可模擬的濕度范圍為20%—98%RH,90℃的可模擬的濕度范圍為20——85%RH。高低溫箱運(yùn)行環(huán)境溫度值為8℃~23℃,對(duì)不具備此條件的環(huán)境,須適當(dāng)配置空調(diào)或冷卻塔來(lái)降低環(huán)境溫度。 低溫低濕度試驗(yàn)箱一般濕度范圍為10——98%RH,測(cè)試溫度為5——90℃。 例如在5℃的可模擬的濕度范圍為40——75%RH,10℃的時(shí)候可模擬的濕度范圍為15%—85%RH,30℃——85℃的時(shí)候濕度為10%—98%RH,90℃的時(shí)候可模擬的濕度范圍為10—85%RH。 他們之間的區(qū)別是在于普通型恒溫恒濕試驗(yàn)箱無(wú)法模擬20%RH以下的濕度。零度以下是沒(méi)有濕度的,在零度以下測(cè)試產(chǎn)品周?chē)苋菀仔纬山Y(jié)露/結(jié)霜狀態(tài),這時(shí)候提相對(duì)濕度要求沒(méi)有實(shí)際意義。 環(huán)境及可靠性試驗(yàn)設(shè)備的選擇應(yīng)遵循以下基本原則:環(huán)境條件的再現(xiàn)性。 人們完全可以正確而近似地模擬工程產(chǎn)品在使用、貯存、運(yùn)輸?shù)冗^(guò)程中所經(jīng)受的外界環(huán)境條件,這段話用工程的語(yǔ)言概括,就是“試驗(yàn)設(shè)備所創(chuàng)造的圍繞被試產(chǎn)品周邊的環(huán)境條件應(yīng)該滿足產(chǎn)品試驗(yàn)規(guī)范所規(guī)定的環(huán)境條件及其容差的要求”。
高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱產(chǎn)品的可靠性和環(huán)境適應(yīng)性均屬于產(chǎn)品的質(zhì)量特性。一是檢查各個(gè)零部件的組裝情況,有沒(méi)有電線接觸不佳,螺絲沒(méi)擰緊的情況。,環(huán)境條件與可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)有關(guān),環(huán)境工程在產(chǎn)品全壽命期內(nèi)開(kāi)展,可以提高產(chǎn)品的設(shè)計(jì)質(zhì)量和檢驗(yàn)生產(chǎn)質(zhì)量的穩(wěn)定性,特別是對(duì)成敗型產(chǎn)品的研制、設(shè)計(jì)及生產(chǎn)過(guò)程中,環(huán)境工程的試驗(yàn)結(jié)果可以被可靠性工程所接受和運(yùn)用。但在產(chǎn)品設(shè)計(jì)研制過(guò)程中環(huán)境工程主要分析產(chǎn)品在其壽命周期中可能遇到的極限環(huán)境,利用設(shè)計(jì)手段提高產(chǎn)品承受極限環(huán)境的能力。而可靠性工程主要分析產(chǎn)品在其壽命周期中可能遇到的典型環(huán)境,利用設(shè)計(jì)手段來(lái)提高產(chǎn)品的可靠性水平。
高低溫濕熱試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、各種電子元器件及材料在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下,檢驗(yàn)其可靠性各項(xiàng)性能指標(biāo)的儀器設(shè)備。本試驗(yàn)箱之制冷系統(tǒng)采用1套法國(guó)產(chǎn)泰康全封閉壓縮機(jī)所組成的單元氟利昂制冷系統(tǒng)。高溫時(shí)可測(cè)試產(chǎn)品零件、材料可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象(如:填充物和密封條軟化或融化、電子電路穩(wěn)定性下降,絕緣損壞、加速高分子材料和絕緣材料老化等) ; 在低溫時(shí)可測(cè)試產(chǎn)品零件、材料可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象(如:材料發(fā)硬變脆、電子元器件性能發(fā)生變化、水冷凝結(jié)冰、材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化等)。高低溫濕熱試驗(yàn)箱低溫控制方式:制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán),該循環(huán)由兩個(gè)等溫過(guò)程和兩個(gè)絕熱過(guò)程組成,其過(guò)程如下:制冷劑經(jīng)壓縮機(jī)絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進(jìn)行熱交換將熱量傳給四周介質(zhì)。