一六儀器X射線熒光測厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。c安裝人員，要進行X射線的防護教育，應(yīng)佩帶劑量測試筆，穿防護作業(yè)服，戴防護眼鏡和手套。

   測厚儀介紹：可以用來在線測 量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號的形式輸出。該電訊號輸給顯示器和自動厚度控制系統(tǒng)，以實現(xiàn) 對板帶厚度的自動厚度控制（AGC）。 目前常見的測厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種，其安放位置均在板帶軋機的出口或入 口側(cè)。設(shè)計、安裝測厚儀時要在可能的條件下盡量靠近工作輥，目的是降低板厚的滯后調(diào)整時間。第三,在測量過程中,被測物體上,可能會有附著物,也會影響測量的精度。

儀一六儀器 快速精準分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析，

微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.

測厚儀分類：

一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測厚儀

四、電解式（庫倫法）

五、金相測試法

六、非破壞熒光式（X光）

1.渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦liu產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

2.同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產(chǎn)生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。當人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。

   當X射線激發(fā)出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。手持式的磁感應(yīng)原理是，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。