一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理

X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。江蘇一六儀器X射線熒光光譜測厚儀產(chǎn)品配置X光金屬鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為：X射線管，正比計(jì)數(shù)器﹨半導(dǎo)體探測器，高清攝像頭，高度激光，信號檢測電子電路。由原子物理學(xué)的知識，對每一種化學(xué)元素的原子來說，都有其特定的能級結(jié)構(gòu)，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，這時(shí)原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)。此時(shí)，其他的外層電子便會(huì)填補(bǔ)這一空位，即所謂的躍遷，同時(shí)以發(fā)出X射線的形式放出能量。

由于每一種元素的原子能級結(jié)構(gòu)都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應(yīng)元素的存在，而特征X射線的強(qiáng)弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量。

一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

上照式：通常都有Z軸可移動(dòng)，所以可對形狀復(fù)雜的樣品（如凹面內(nèi)）做定位并且測試，一般可定位到2mm以內(nèi)的深度，如Thick800A，另外有些廠商在此基礎(chǔ)上配備了可變焦裝置，搭配先進(jìn)的算法，可定位到80mm以內(nèi)的深度，如XDL237

下照式：通常都沒有Z軸可移動(dòng)，所以不可對凹面等無法直接接觸測試窗口的位置進(jìn)行定位并測試，但操作簡單，造價(jià)相對低；部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測試復(fù)雜形狀樣品，同時(shí)也抬高了價(jià)格

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。

波長色散型X射線熒光光譜儀的前面部分和能量色散型X射線熒光光譜儀是一樣的，X光管激發(fā)樣品，檢測器測量來自樣品的射線，但波長色散型X射線熒光光譜儀的檢測器和能量色散型X射線熒光光譜儀的檢測器不同。從設(shè)計(jì)上分為橫窗型(sidewindowtype)和縱窗型(endwindowtype)兩種X射線管，都是設(shè)計(jì)成能夠把X射線均勻得照射在樣品表面的結(jié)構(gòu)。波長色散型X射線熒光光譜儀的計(jì)策系統(tǒng)由一套準(zhǔn)直器，衍射晶體和探測器組成，來自樣品的特征譜線照射到鏡頭上，晶體將不同波長(能量)的譜線衍射到不同的方向，（相當(dāng)于棱鏡將復(fù)合光分解成不同的單色光），將檢測器放置在一定的角度，就可測量某一波長的譜線強(qiáng)度。將分光晶體和探測器裝在測角儀上，使它在一定角度范圍內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)，一次測量不同波長長譜線的強(qiáng)度，使用這種形式的光譜儀稱為順序掃描式光譜儀。安裝固定檢測系統(tǒng)的稱為同時(shí)式光譜儀，每一套檢測系統(tǒng)都有自己的晶體和探測器，分別測量某一特定元素的譜線，各譜線的強(qiáng)度同時(shí)被測量，這就很容易理解為什么稱它為固定道波長色散型光譜儀，另外也有固定式和轉(zhuǎn)動(dòng)式結(jié)合的儀器。X射線波長色散型光譜儀一般有光源（X-射線管）、樣品室

分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。