頭部集成了薄膜厚度測量所需功能

通過顯微光譜法測量高i精度絕i對反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)）

1點(diǎn)1秒高速測量

顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外）

區(qū)域傳感器的安全機(jī)制

易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析

獨(dú)立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求

支持各種自定義

測量項(xiàng)目：

絕i對反射率測量

多層膜解析

光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

為了確保膜厚儀的安全操作，必須注意以下幾點(diǎn)：　　·始終按照操作手冊的要求操作膜厚儀；　　·不要損壞安全互鎖系統(tǒng)的任何元件，例如微動開關(guān)等等；　　·不要對膜厚儀做任何改變。

膜厚儀測試時有關(guān)輻射安全注意事項(xiàng)

幅射安全方面膜厚儀由于使用X射線管而產(chǎn)生輻射。測量頭的設(shè)計(jì)完全符合國際X射線安全要求：　　·測量頭控制臺上的一個鑰匙開關(guān)通過打開或關(guān)閉X射線管上的高壓決定X幅射的產(chǎn)生與否；　　·一個多級故障自動保險互鎖系統(tǒng)可控制X幅射的產(chǎn)生，從而有效保護(hù)操作者的安全；　　·如果測量門沒有完全關(guān)閉，X幅射就不會進(jìn)入測量室；　　·足夠的遮罩用來減小外部的幅射量。

　膜厚儀廠家解釋凡其厚度與入射光波長相比擬的并能引起干涉現(xiàn)象(相干光程小于相干長度)的膜層為薄膜，其厚度遠(yuǎn)大于入射光波波長的膜層稱之為厚膜。如今，微電子薄膜，光學(xué)薄膜，抗1氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導(dǎo)薄膜等在工業(yè)生產(chǎn)和人類生活中的不斷應(yīng)用，在工業(yè)生產(chǎn)的薄膜，其厚度是一個非常重要的參數(shù)，直接關(guān)系到該薄膜材料能否正常工作。