大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

產品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測?？蛇x配傾斜式、旋轉式量測平臺，評估三次元折射率參數(shù)解析等視野角特性。配合量測樣品，自由架構量測平臺。

rets相位差光學材料量

產品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測?？蛇x配傾斜式、旋轉式量測平臺，評估三次元折射率參數(shù)分析等眼簾角特性。共同量測樣品，從容架構量測平臺。

本設備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。

本設備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型Ｘ－Ｙ平臺以及偏光光學系，測定透過型液晶面板面內的cellgap和預斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。通過多折射位相差（RE.）來計算液晶封入后的液晶基板的cellgap值，測定精度高。

測定haze補正用樣品（與被測定樣品相同haze特性AG-TAC）,取得其補正table. 反復性能。(保證值)是利用本裝置附屬的基準樣本(偏光板)的測量結果（0.1s間隔 定點15回連續(xù)測量）。將粘貼面有漏出的樣品貼合與樣品治具上，反轉治具測定，玻璃上貼附樣品的場合，將超出部分的film定位與基準面，只反轉樣品進行測定。因本系統(tǒng)為精密光學測定裝置，作為設置場所，請考慮以下條件。