FE3000反射式膜厚量測儀:主要測試項目：量子效率測定，量子效率的激發(fā)波長依賴特性，發(fā)光光譜、反射光譜測定，透過、吸收光譜測量，PL激發(fā)光譜，顏色演算（色度、色溫、演色性等）利用二次激發(fā)熒光校正功能去除再激發(fā)熒光發(fā)光。

解析非線性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/適化法

基板解析/里面反射補正/各類nk解析模型式

絕i對反射率/解析結果Fitting/折射率n的波長相關性/消光系數(shù)k的波長相關性

3D顯示功能（面內(nèi)膜厚分布、鳥窺圖、等高線、斷面圖）

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M行量子效率測試的系統(tǒng)。

半積分球。大塚電子獨有專利，提高積分球測試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內(nèi)獨i家）；(2)多次激發(fā)修正。大塚電子獨有專利，i大程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來的多次激發(fā), 對粉末和固體測試精度提高明顯（世界范圍內(nèi)獨i家）；(3)光譜可擴展, 光譜探測范圍可擴展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級配備控溫系統(tǒng)（-30℃-300℃）

不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學窗口，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數(shù)量5個），尺寸直徑≤10mm

FE3000反射式膜厚量測儀原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產(chǎn)生的發(fā)光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。

關于冷卻水的更換沒有特定的時間要求，可目視，發(fā)現(xiàn)水有污垢時請更換冷卻水。更換時請用自來水或是軟水（不可使用純水，如使用純水，會和空氣中的CO2結合形成酸性環(huán)境，從而導致冷卻裝置內(nèi)部遭到腐蝕）。