顯微鏡放大倍數(shù)和分辨率

顯微鏡放大倍數(shù)和分辨率受到很多因素影響，如透鏡質(zhì)量、機械裝配質(zhì)量等多方面因素，都可以影響顯微鏡的分辨率和放大倍數(shù)。但即便透鏡和機械裝置做得再，終顯微鏡放大倍數(shù)和分辨率也不是無限的，終受到入射光源波長限制。 這是因為人觀察事物完全依賴光，也就是說物體必須發(fā)出光或者得到光的照射，人眼才能夠看到，不管是光學(xué)顯微鏡還是電子顯微鏡，都必須有一個光源入射，被觀測物體才能夠被“看到”。當被觀測物體小于入射波段的一半時，就不會被觀測到。

顯微鏡測量模式及比對模式,可搭配GSM

顯微鏡測量模式：具有測量模式及比對模式，可搭配GSM-C289A軟件進行分析。 1、繪圖——可以在計算機顯示器上很方便地觀察金相圖像，并對金相圖譜進行分析，評級等。結(jié)合光學(xué)影像量測系統(tǒng)，對工件進行高度的光學(xué)量測，并可以以EXCEL、WORD、TXT格式輸出做數(shù)據(jù)分析，并可以用DFX格式輸出在CAD中進行工程圖的設(shè)計。 2、 測量——可測量平面上的任何幾何圖形之尺寸（角度、長度、直徑、半徑、點到線的距離、圓的偏心、兩圓間距等） 3、 標注——可在實時影像中的實際工件上標注各種幾何尺寸。 4、 拍照——可拍下實物照片，包括所標注的尺寸。

粗磨粗磨的目的主要有以下三點

粗磨 粗磨的目的主要有以下三點： ?修整 有些試樣，例如用錘擊法敲下來的試樣，形狀很不規(guī)則，必須經(jīng)過粗磨，修整為規(guī)則形狀的試樣; ?磨平 無論用什么方法取樣，切口往往不十分平滑，為了將觀察面磨平，同時去掉切割時產(chǎn)生的變形層，必須進行粗磨; ?倒角 在不影響觀察目的的前提下，需將試樣上的棱角磨掉，以免劃破砂紙和拋光織物。

拋光的目的是去除細磨后遺留在磨面上的細微磨痕

拋光 拋光的目的是去除細磨后遺留在磨面上的細微磨痕，得到光亮無痕的鏡面。拋光的方法有機械拋光、電解拋光和化學(xué)拋光三種，其中的是機械拋光。機械拋光在拋光機上進行，將拋光織物(粗拋常用帆布，精拋常用毛呢)用水浸濕、鋪平、繃緊并固定在拋光盤上。 啟動開關(guān)使拋光盤逆時針轉(zhuǎn)動，將適量的拋光液(氧化鋁、氧化鉻或氧化鐵拋光粉加水的懸浮液)滴灑在盤上即可進行拋光，拋光時應(yīng)注意： ?試樣沿盤的徑向往返緩慢移動，同時逆拋光盤轉(zhuǎn)向自轉(zhuǎn)，待拋光快結(jié)束時作短時定位輕拋。 ?)在拋光過程中，要經(jīng)常滴加適量的拋光液或清水，以保持拋光盤的濕度，如發(fā)現(xiàn)拋光盤過臟或帶有粗大顆粒時，必須將其沖刷干凈后再繼續(xù)使用。 ?拋光時間應(yīng)盡量縮短，不可過長，為滿足這一要求可分粗拋和精拋兩步進行。 ④拋有色金屬(如銅、鋁及其合金等)時，在拋光盤上涂少許肥皂或滴加適量的肥皂水。