顯微鏡測量模式及比對模式,可搭配GSM

顯微鏡測量模式：具有測量模式及比對模式，可搭配GSM-C289A軟件進行分析。 1、繪圖——可以在計算機顯示器上很方便地觀察金相圖像，并對金相圖譜進行分析，評級等。結(jié)合光學(xué)影像量測系統(tǒng)，對工件進行高度的光學(xué)量測，并可以以EXCEL、WORD、TXT格式輸出做數(shù)據(jù)分析，并可以用DFX格式輸出在CAD中進行工程圖的設(shè)計。 2、 測量——可測量平面上的任何幾何圖形之尺寸（角度、長度、直徑、半徑、點到線的距離、圓的偏心、兩圓間距等） 3、 標(biāo)注——可在實時影像中的實際工件上標(biāo)注各種幾何尺寸。 4、 拍照——可拍下實物照片，包括所標(biāo)注的尺寸。

金相顯微鏡主要用于鑒定和分析

金相顯微鏡主要用于鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，它是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，是工業(yè)部門鑒定產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備，該儀器配用攝像裝置，可攝取金相圖譜，并對圖譜進行測量分析，對圖象進行編輯、輸出、存儲、管理等功能。 金相顯微鏡由于易于操作、視場較大、價格相對低廉，直到現(xiàn)在仍然是常規(guī)檢驗和研究工作中常使用的儀器。

金相顯微鏡明場/暗場區(qū)別

金相顯微鏡明場/暗場區(qū)別？ 什么是明場：是通過直射光線將物體照亮之后，將反射光直接進入成像系統(tǒng)，然后使物體成像。所成得像則為彩色的圖像，不過對于一些微小的裂紋跟劃傷等則看不清晰。 什么是暗場：傾斜入射的光線打在檢驗區(qū)域的旁邊，完全不進入成像系統(tǒng)，能進入成像系統(tǒng)的只是被受照物體表面的微粒散射或衍射的光線，成像後得到的是這些亮的微粒像，成像為黑白圖像。 可以更清楚看到細小的劃傷跟裂紋。

金相顯微鏡是用可見光作為照明源的一種

金相顯微鏡是用可見光作為照明源的一種顯微鏡可分為正立式和倒置式兩種。兩者的區(qū)別為： 正立式顯微鏡：光路短，光路設(shè)計簡單，光損少，制樣要求高，樣品高度有要求，方便多視場連續(xù)觀察，鏡頭不易落灰易維護。 倒置式顯微鏡：光路長，光損較大，光路設(shè)計較復(fù)雜，制樣要求較低，對樣品高低無要求，檢測方便快速，不適合多視場分析，同等配置下倒置顯微鏡的價格要高于正立式顯微鏡。