大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

在相位差膜等光學(xué)膜中，要求有高透明性、低光彈性率、耐熱性、耐光性、高表面硬度、高機械強度、大相位差、相位差的波長依存性小，以及相位差的入射角依存性小等特性。以往，作為表現(xiàn)透明樹脂材料光學(xué)各向異性的方法，可以進行膜的拉伸配向。已知通過該拉伸配向，由聚甲i基丙i烯酸甲酯(P匿A)或聚乙烯(PS)所形成的膜顯示出負雙折射性，由聚^J吏酯(PC)或環(huán)烯烴類樹脂(COP)所形成的膜顯示出正雙折射性。

本裝置是photonic結(jié)晶偏光子arrayh和CCD camera構(gòu)成的專用偏光計測模組和透過偏光光學(xué)系相結(jié)合進行測定橢圓率，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測定，進而演算其吸收軸，光軸，相對角、RE的裝置。

測定haze補正用樣品（與被測定樣品相同haze特性AG-TAC）,取得其補正table. 反復(fù)性能。(保證值)是利用本裝置附屬的基準樣本(偏光板)的測量結(jié)果（0.1s間隔 定點15回連續(xù)測量）。將粘貼面有漏出的樣品貼合與樣品治具上，反轉(zhuǎn)治具測定，玻璃上貼附樣品的場合，將超出部分的film定位與基準面，只反轉(zhuǎn)樣品進行測定。因本系統(tǒng)為精密光學(xué)測定裝置，作為設(shè)置場所，請考慮以下條件。