數(shù)據(jù)處理操作①、分析數(shù)據(jù)，一律以標(biāo)鋼含量為準(zhǔn)，以控制標(biāo)鋼的正負(fù)偏差為準(zhǔn)。②、數(shù)據(jù)的選擇和取舍要穩(wěn)重，要考慮多方面的因素，如鐵值的變化，其它元素的變化，插入鋁量，激發(fā)斑點(diǎn)、激發(fā)聲音等，有時(shí)需要重磨試樣分析驗(yàn)證，有時(shí)候需要多次激發(fā)來(lái)驗(yàn)證。在驗(yàn)證分析試樣的時(shí)間，也要激發(fā)接近含量的標(biāo)鋼，以便證明儀器是在正常的工作狀態(tài)。③、如果標(biāo)鋼加減量太大時(shí)，必須進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化，校正各元素的工作曲線。④、處理數(shù)據(jù)要注意正號(hào)，負(fù)號(hào)，不要加減錯(cuò)誤和看錯(cuò)小數(shù)點(diǎn)。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

判別光譜儀的好壞，有個(gè)非常簡(jiǎn)單的方法。就是用國(guó)級(jí)光譜標(biāo)樣，在不同的光譜儀上連續(xù)打10個(gè)點(diǎn)，看它的極差或者RSD。這類(lèi)數(shù)據(jù)，就叫做短期穩(wěn)定性，簡(jiǎn)稱(chēng)短穩(wěn)。該數(shù)值越小，說(shuō)明光譜儀短穩(wěn)越好。

因?yàn)楣庾V儀的構(gòu)造和原理，各家都一樣。都是鎢電極對(duì)金屬樣品進(jìn)行火花放電，產(chǎn)生復(fù)合光譜，經(jīng)過(guò)透鏡進(jìn)入分光室，通過(guò)帕邢隴格裝置得到需要的特征光譜線，再由PMT或者CCD、CMOS把光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，進(jìn)行數(shù)學(xué)處理。終在屏幕上顯示的就是元素含量或者光強(qiáng)。

無(wú)論各個(gè)品牌宣講所謂的CCS技術(shù)、PDA技術(shù)、ICAL技術(shù)，終都是要體現(xiàn)在數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度的。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

即開(kāi)即用：光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定，可抗較大溫度波動(dòng)。消除了在零度以下進(jìn)行冷卻的需要。先進(jìn)的低噪聲線性陣列CMOS探測(cè)器可避免信號(hào)溢出。讀出速度快， 動(dòng)態(tài)范圍寬。

功率強(qiáng)勁：新的LDMOS 1700 W發(fā)生器有助于分析難于分析的各種基體，檢測(cè)限更低。無(wú)需額外的水冷裝置。整機(jī)預(yù)熱時(shí)間短，提高檢測(cè)效率

占地面積?。簝x器采用了簡(jiǎn)約的設(shè)計(jì)風(fēng)格，超短進(jìn)樣路徑，所有樣品導(dǎo)入組件都易于查看和維護(hù)。SPECTROGREEN的儀器進(jìn)深短，易于擺放。在儀器預(yù)留足夠的空間放置待測(cè)樣品或額外的進(jìn)樣裝置。

操作簡(jiǎn)便直觀：新的SPECTRO ICP Analyzer Pro操作軟件可提供簡(jiǎn)單直觀的使用體驗(yàn)。簡(jiǎn)化的工作流程由模塊化插件架構(gòu)支持，可根據(jù)每個(gè)用戶(hù)的需求定制界面。即使有大量數(shù)據(jù)，處理速度也相當(dāng)快 - 比以前的數(shù)據(jù)庫(kù)系統(tǒng)快1500倍。版本和用戶(hù)管理與出色的審計(jì)跟蹤功能相結(jié)合，使分析過(guò)程完全透明和可追溯。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

光譜儀維修必學(xué)的準(zhǔn)則

“先簡(jiǎn)后繁”，先從簡(jiǎn)單的器件或部位下手，再進(jìn)入復(fù)雜繁瑣的電路或線路。在維修電路時(shí)，根據(jù)儀器的電路原理，先從簡(jiǎn)單的電路開(kāi)始進(jìn)行，如指示燈不亮、按鍵失靈或接觸不良、電壓電流表無(wú)指示或指示異常、電源插頭插座松動(dòng)、保險(xiǎn)絲是否熔斷、開(kāi)關(guān)接觸是否可靠等。在此基礎(chǔ)上進(jìn)一步維修復(fù)雜的而繁瑣主電路或線路，比如：變壓器、繼電器、接觸器、壓力傳感器、電磁閥、過(guò)壓（限壓）保護(hù)開(kāi)關(guān)、流量傳感器等主控電路或線路。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制