芯片檢測(cè)顯微鏡的應(yīng)用特點(diǎn)

老上光儀器廠——專業(yè)芯片檢測(cè)顯微鏡供應(yīng)商，我們?yōu)槟鷰硪韵滦畔ⅰ?/span>

集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免，隨著人們對(duì)芯片產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片檢測(cè)顯微鏡對(duì)集成電路失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。