X射線熒光光譜儀 X-Strata 920

根據(jù)所得光譜圖進行定性鑒定或定量分析。隨著ICP的廣泛使用，人們對縮短分析時間和改善復(fù)雜基體樣品檢測能力的需求日益增加。由于不同元素的原子結(jié)構(gòu)不同，當(dāng)被激發(fā)后發(fā)射光譜線的波長不盡相同，即每種元素都有其特征的波長，故根據(jù)這些元素的特征光譜就可以準(zhǔn)確無誤的鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強度與試樣中該元素的含量有關(guān)，因此還可利用這些譜線的強度來測定元素的含量(定量分析)。

檢查半導(dǎo)體材料硅和鍺是不是達到了高純度的要求時，就要用到光太陽光譜譜分析．在歷史l上，光譜分析還幫助人們發(fā)現(xiàn)了許多新元素．例如，銣和銫就是從光譜中看到了以前所不知道的特征譜線而被發(fā)現(xiàn)的．光譜分析對于研究天體的化學(xué)組成也很有用．十九世紀(jì)初，在研究太陽光譜時，發(fā)現(xiàn)它的連續(xù)光譜中有許多暗線。與傳統(tǒng)的同類手持式設(shè)備相比，xSORT可在有限的工作周期內(nèi)完成更多次的樣品測試，性價比極l佳。

直讀光譜儀 FMXline

把試樣在能量的作用下蒸發(fā)、原子化(轉(zhuǎn)變成氣態(tài)原子)，并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)。當(dāng)從較高的能級躍遷到較低的能級時，原子將釋放出多余的能量而發(fā)射出特征譜線。這一過程稱為蒸發(fā)、原子化和激發(fā)，需借助于激發(fā)光源來實現(xiàn)。

德國斯派克落地式火花直讀光譜分析儀SPECTROLAB M12

建立光學(xué)系統(tǒng)技術(shù)新標(biāo)準(zhǔn)

2007年SPECTROLAB創(chuàng)造了先鋒技術(shù)“混合動力”PMT/CCD雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)，為高l端直讀光譜儀光學(xué)技術(shù)樹立了新的里程碑。自從斯派克公司從未間斷提升兩種技術(shù)至新的境界。

兩種創(chuàng)造性的光學(xué)系統(tǒng)技術(shù)

無論第三代“混合動力”雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)還是全CCD光學(xué)系統(tǒng)都創(chuàng)造性地為金屬工業(yè)提供了杰出的光學(xué)分析性能。雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)無懈可擊地滿足了個性化科研實驗室對靈活性，穩(wěn)定性和精度的嚴(yán)格要求。使其尤其適于檢測新材料，痕量分析，夾雜物，高純金屬。全CCD光學(xué)系統(tǒng)兼具驚人的重要性，穩(wěn)定性和快速分析。德國斯派克手持式X射線熒光光譜儀手持式ROHS分析儀（EDXRF）SPECTROxSORT手持式能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF）SPECTROxSORT與同類產(chǎn)品相比性能卓越，在幾秒鐘時間內(nèi)可以提供實驗室級的分析結(jié)果。便捷的ICAL智能標(biāo)準(zhǔn)化大大縮短儀器校正時間。這些性能恰恰是爐前過程控制或進出廠原材料質(zhì)量檢驗需要的。不僅于此，SPECTROLAB專利的測定球墨鑄鐵中的碳元素含量技術(shù)逐步取代了紅外碳硫分析儀。美國專利證書編號：8，976，350，B2

德國斯派克手持式光譜儀 手持式合金分析儀 SPECTRO xSORT

在大多數(shù)應(yīng)用場合，如金屬牌號鑒別，SPECTRO xSORT可以在區(qū)區(qū)兩秒的分析時間內(nèi)給出金屬牌號以及實驗室級的材料化學(xué)組成分析結(jié)果。高效硬件自診斷，維護提醒，遠程聯(lián)機：SPECTROLAB將硬件自診斷功能進一步提升。而對于復(fù)雜基體分析如環(huán)境監(jiān)測分析，xSORT無需復(fù)雜的樣品前處理，即可取得同類設(shè)備無法取得的低的元素檢測下限。

新一代SPECTRO xSORT 在繼承既有的高性價比，有效能優(yōu)點基礎(chǔ)上，更針對客戶精準(zhǔn)定位分析的需要增加了可視化CCD攝像頭以滿足小焦點精準(zhǔn)定位分析的要求，測試點的影像可以和分析結(jié)果一起保存在系統(tǒng)內(nèi)存中，一體化集成GPS定位可以將測試點經(jīng)緯度坐標(biāo)信息同測試結(jié)果一起保存，便于回溯，極大的提升了工作效率。但當(dāng)原子受到能量(如熱能、電能等)的作用時，原子由于與高速運動的氣態(tài)粒子和電子相互碰撞而獲得了能量，使原子中外層的電子從基態(tài)躍遷到更高的能級上，處在這種狀態(tài)的原子稱激發(fā)態(tài)。