溫補(bǔ)振蕩器頻率的調(diào)節(jié)

溫補(bǔ)振蕩器,其采用模擬數(shù)字結(jié)合工藝,利用集成的二極管溫度計測量環(huán)境溫度,利用已知的晶振頻率和溫度的關(guān)系來調(diào)節(jié)晶振頻率.在頻率調(diào)節(jié)上采用數(shù)字減波法.在大大降低電路復(fù)雜程度同時,準(zhǔn)確的補(bǔ)償了頻率的誤差和溫度漂移,頻率穩(wěn)定性達(dá)到了傳統(tǒng)模擬TCXO的水平.通過低次泛音振蕩一倍頻方法實現(xiàn)的高頻溫度補(bǔ)償晶體振蕩器,分解解決了高頻補(bǔ)振蕩器設(shè)計中的若干關(guān)鍵性問題,文中以128.466MHz為例,給出了溫度晶振的實驗結(jié)果.

溫補(bǔ)振蕩器組成

溫度補(bǔ)償晶體振蕩器的溫度-電壓補(bǔ)償碼特性曲線測試系統(tǒng),給出了測試系統(tǒng)的總體設(shè)計方案,測試服務(wù)器的軟硬件設(shè)計方法和基于事件驅(qū)動的計算機(jī)測試軟件模型.測試系統(tǒng)由計算機(jī),測試服務(wù)器,高低溫試驗箱和高精度數(shù)字頻率計等組成,由人工方式設(shè)置溫箱溫度,恒溫時間,采用人工或自動方式選擇待測數(shù)字溫度補(bǔ)償振蕩器試件,提取待測數(shù)字溫度補(bǔ)償振蕩器的溫度碼和按溫度頻率穩(wěn)定度設(shè)定補(bǔ)償電壓碼,自動生成數(shù)字溫度補(bǔ)償電路所需的Intel-HEX格式的單片機(jī)機(jī)器碼文件.實驗結(jié)果表明,設(shè)計的測試系統(tǒng)能夠滿足高精度數(shù)字溫度補(bǔ)償振蕩器批量生產(chǎn)的需要.

溫補(bǔ)振蕩器測試方法

如果使用方?jīng)]有特別強(qiáng)調(diào),頻率溫度穩(wěn)定度指標(biāo)的驗收,一般采用穩(wěn)態(tài)測試。這是因為多數(shù)溫補(bǔ)晶體振蕩器是依靠溫度傳感器調(diào)節(jié)振蕩回路中變?nèi)荻O管的電容量來保證其工作在標(biāo)稱頻率附近的。為克服溫度敏感元件（包括溫度傳感器和晶體諧振器）固有溫度時間常數(shù)的不同,晶體振蕩器生產(chǎn)廠家普遍采用穩(wěn)態(tài)環(huán)境溫度測試,并根據(jù)溫度敏感元件達(dá)到溫度平衡的測試的溫度補(bǔ)償電壓值來生產(chǎn)的。實踐證明穩(wěn)態(tài)測試足以滿足絕大多數(shù)應(yīng)用場合。