FCT功能測(cè)試系統(tǒng)概述

功能測(cè)試（FT：Functional Test或FCT：Functional Circuit Test）指的是對(duì)測(cè)試目標(biāo)板（UUT：Unit Under Test）的提供模擬的運(yùn)行環(huán)境，加載合適的激勵(lì)或負(fù)載，使UUT工作于各種設(shè)計(jì)、工作狀態(tài)，從而獲取UUT點(diǎn)的輸出參數(shù)和響應(yīng)情況，進(jìn)行驗(yàn)證UUT的功能是否良好的測(cè)試方法，測(cè)量輸出端響應(yīng)是否合乎要求。測(cè)試控制單元作為功能測(cè)試的核心部分,通過控制單元切換各種控制信號(hào)為PCB功能測(cè)試提供條件,還可以將多路輸出電壓信號(hào)通過分時(shí)復(fù)用的方式切換至萬用電表,實(shí)現(xiàn)功能量測(cè)。

FCT測(cè)試系統(tǒng)硬件主要組成

由測(cè)試機(jī)臺(tái),控制單元,測(cè)試設(shè)備三部分組成：

1. 測(cè)試機(jī)臺(tái)由機(jī)柜和壓床組成：機(jī)柜用于擺放各類集成設(shè)備,壓床是用來固定和控制測(cè)試治具與PCB板的接觸.便于完成所有功能測(cè)試

2. 測(cè)試控制單元作為功能測(cè)試的核心部分,通過控制單元切換各種控制信號(hào)為PCB功能測(cè)試提供條件,還可以將多路輸出電壓信號(hào)通過分時(shí)復(fù)用的方式切換至萬用電表,實(shí)現(xiàn)功能量測(cè)。

3. 測(cè)試設(shè)備包括：交流源,直流源,負(fù)載,功率計(jì),萬用電表,示波器,信號(hào)發(fā)生器等各種設(shè)備,根據(jù)PCB測(cè)試功能要求不同進(jìn)行選配。

fct功能測(cè)試治具定位原理

以外緣輪廓定位

對(duì)于面積尺寸較小而且外廓一致性較好的電路板，可采用外輪廓定位方式。長(zhǎng)邊用定位板，限制2個(gè)自由度；注意對(duì)于變形較大的UUT，此孔的位置也不宜選在電路板的兩端，但兩孔間距也不宜過小，設(shè)計(jì)時(shí)定位柱和定位孔的間隙適量放大，一般在0。短邊用定位針，限制1個(gè)自由度。在另一短邊，還可以增加1只定位針，形成所謂的約束性過定位。這種方式中，兩根定位柱所限位的尺寸應(yīng)比UUT尺寸略大，在0.3mm～0.5mm即可。雖然由于此間隙的存在，定位精度會(huì)略有降低，但操作方便、制造簡(jiǎn)單。