開關(guān)電源的檢修技巧

開關(guān)電源中保險(xiǎn)熔斷的直接原因:開關(guān)管﹨電源厚模塊﹨整流二極管擊穿﹨100uf/400v大電容擊穿漏電，消磁電阻內(nèi)部碎裂。

開關(guān)電源各輸出端始終無(wú)電壓輸出的常見原因:交流220v整流濾波電路中的保險(xiǎn)電阻開路;開關(guān)管基極到100uf/400v大濾波電容正極之間的電阻開路。

開關(guān)電源只在開機(jī)瞬間有小電壓輸出的常見原因:行輸出管擊穿，開關(guān)電源中開關(guān)變壓器一左的2.2uf~100uf電解電容失效`漏電

開關(guān)電源輸出電壓低的常見原因:行輸出變壓器局部短路`脈寬調(diào)制電路中的三極管和二極管擊穿`漏電`光耦合器件中的三極管漏電等。

造成光柵與圖象S扭曲和有兩條垂直方向移動(dòng)黑帶的原因:100UF?400V大濾波電容失效和容量下降。

造成光柵局部有彩斑的和圖象局部彩色不對(duì)的原因:是開關(guān)電源交流220V輸入電路中的消茲電阻開路。

開關(guān)電源的電子器件

開關(guān)電源中應(yīng)用的電力電子器件主要為二極管、IGBT和MOSFET、變壓器。SCR在開關(guān)電源輸入整流電路及軟啟動(dòng)電路中有少量應(yīng)用，GTR驅(qū)動(dòng)困難，開關(guān)頻率低，逐漸被IGBT和MOSFET。開關(guān)電源的發(fā)展方向是高頻、高可靠、低耗、低噪聲、抗干擾和模塊化。電路調(diào)試，輸出有LC濾波的電路需要老化確認(rèn)紋波，如果紋波異常請(qǐng)調(diào)整環(huán)路。開關(guān)電源由于開關(guān)電源輕、小、薄的關(guān)鍵技術(shù)是高頻化，因此國(guó)外各大開關(guān)電源制造商都致力于同步開發(fā)新型高智能化的元器件，特別是改善二次整流器件的損耗，并在功率鐵氧體材料上加大科技創(chuàng)新，以提高在高頻率和較大磁通密度（Bs)下獲得高的磁性能，而電容器的小型化也是一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)。SMT技術(shù)的應(yīng)用使得開關(guān)電源取得了長(zhǎng)足的進(jìn)展，在電路板兩面布置元器件，以確保開關(guān)電源的輕、小、薄。開關(guān)電源的高頻化就必然對(duì)傳統(tǒng)的PWM開關(guān)技術(shù)進(jìn)行創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)ZVS、ZCS的軟開關(guān)技術(shù)已成為開關(guān)電源的主流技術(shù)，可調(diào)開關(guān)電源，并大幅提高了開關(guān)電源的工作效率。對(duì)于高可靠性指標(biāo)，美國(guó)的開關(guān)電源生產(chǎn)商通過(guò)降低運(yùn)行電流，降低結(jié)溫等措施以減少器件的應(yīng)力，使得產(chǎn)品的可靠性大大提高。

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開關(guān)電源產(chǎn)品的介紹

明緯電子的產(chǎn)品應(yīng)用廣泛，主要包括LED廣告牌/照明、工業(yè)自動(dòng)化/工控、信息/通訊/商用、醫(yī)學(xué)、交通運(yùn)輸以及綠色能源產(chǎn)業(yè)等。如：調(diào)高電壓或換用更大功率輸入電源，調(diào)整布線，增大導(dǎo)線截面積或縮短導(dǎo)線長(zhǎng)度，減小內(nèi)阻，換用導(dǎo)通壓降小的二極管，減小濾波電感值或降低電感的內(nèi)阻。 產(chǎn)品全方面符合國(guó)際安規(guī)，除了提供多方位電源解決方案外，更能節(jié)省客戶端的新產(chǎn)品開發(fā)驗(yàn)證時(shí)間與成本，進(jìn)而讓客戶搶得市場(chǎng)先機(jī)。

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開關(guān)電源簡(jiǎn)介

開關(guān)電源是利用現(xiàn)代電力電子技術(shù)，控制開關(guān)管開通和關(guān)斷的時(shí)間比率，維持穩(wěn)定輸出電壓的一種電源，開關(guān)電源一般由脈沖寬度調(diào)制（PWM）控制IC和MOSFET構(gòu)成。隨著電力電子技術(shù)的發(fā)展和創(chuàng)新，使得開關(guān)電源技術(shù)也在不斷地創(chuàng)新。開關(guān)管基極到100uf/400v大濾波電容正極之間的電阻開路。目前，開關(guān)電源以小型、輕量特點(diǎn)被廣泛應(yīng)用幾乎所有的電子設(shè)備，是當(dāng)今電子信息產(chǎn)業(yè)飛速發(fā)展不可缺少的一種電源方式。

開關(guān)電源的電磁干擾測(cè)試可分為傳導(dǎo)測(cè)試與輻射測(cè)試，一般開關(guān)電源的傳導(dǎo)測(cè)試頻段是指150K~30MHz之間，而輻射擾亂的頻段是指30M~300MHz，300MHz之后的頻段一般皆不是電源所產(chǎn)生，因此大都可以給予忽略。