相位差光學材料量

產(chǎn)品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

購買須知

1、廠家貨源正i品

日本原裝。

2、關于尺碼

按照出廠產(chǎn)品資料有說明。

3、關于顏色

4、關于客服

客戶全天24小時在線，如需緊急處理，請致電公司 。

5、關于售后

日本產(chǎn)品保修一年，消耗品不再維修范圍內。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

偏光計測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強度pattern，因與以往的偏光計測裝置相比，其無偏光子回旋機構，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。

因本系統(tǒng)為精密光學測定裝置，作為設置場所，請考慮以下條件。萬一，下記條件未被滿足的場合，本系統(tǒng)的性能有可能無法發(fā)揮其100%.請注意。

  本設備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準sample。

  本軟件，通過自動制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動ＸＹ平臺來實施cellgap檢查每個樣品都備有檢查菜單，并且樣品可自動運輸，操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。