大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

RETS-100閃電發(fā)貨OTSUKA相位差/光學(xué)材料量測設(shè)備,日本大塚電子；

FPD相關(guān)的檢查和評價設(shè)備：

動態(tài)畫面反應(yīng)時間檢測儀：MPRT-2000,

相位差/光學(xué)材料量測設(shè)備：RETS-100,

發(fā)貨OTSUKA,日本大塚電子液晶顯示器LCD面板LCD-5200；

rets相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點：可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。可選配傾斜式、旋轉(zhuǎn)式量測平臺，評估三次元折射率參數(shù)分析等眼簾角特性。共同量測樣品，從容架構(gòu)量測平臺。

 偏光計測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強度pattern，因與以往的偏光計測裝置相比，其無偏光子回旋機構(gòu)，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。用基準(zhǔn)Sample實施設(shè)備，偏光prism unit的角度校正和基準(zhǔn)Sample自身的Retardation測量。此外，反射用偏光子的角度校正可同時進行。

本裝置是photonic結(jié)晶偏光子arrayh和CCD camera構(gòu)成的專用偏光計測模組和透過偏光光學(xué)系相結(jié)合進行測定橢圓率，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測定，進而演算其吸收軸，光軸，相對角、RE的裝置。

  本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準(zhǔn)sample。