大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

光譜儀(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供豐富選配套件以及客制化光纖?？梢罁?jù)安裝現(xiàn)場需求評估設(shè)計?？伸`活架設(shè)于各種環(huán)境下的i佳即時量測系統(tǒng)。

影響膜厚測量儀的因素

基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的導(dǎo)電性對測量有影響，而基體金屬的導(dǎo)電性與材料成分和熱處理方法有關(guān)。使用與樣品金屬具有相同性質(zhì)的標準膜校準儀器。

基體金屬厚度

每個儀器具有賤金屬的臨界厚度。大于此厚度，測量不受基體金屬厚度的影響。

曲率

試樣的曲率對測量有影響。這種效應(yīng)總是隨著曲率半徑的減小而增加。因此，測量彎曲試樣的表面是不可靠的。

確保測厚儀質(zhì)量的方法：

為了保證設(shè)備的質(zhì)量，不僅要保證質(zhì)量的選擇，還要注意在使用中的操作標準，人員的專業(yè)使用必須保證操作的準確性，在操作過程中必須注意及時為主。儀表的維護

在使用該設(shè)備時，必須注意每天i打開機器后半小時的熱量。在預(yù)熱時間滿足后，數(shù)據(jù)可以保持在一定的誤差范圍內(nèi)，但不能超過此范圍。當產(chǎn)品被測量時，必須確定產(chǎn)品的基材和涂層元素。選擇相應(yīng)的測量方法，時間必須是標準的，測試產(chǎn)品的表面應(yīng)該是平滑的，否則會有很大的誤差。