大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

產(chǎn)品特點高動態(tài)范圍(HDR)光譜儀可量測透明、低對比、高反射率樣品，適用于量測光通量。有效抑制雜散光，適合UV光譜分析。相較于本公司歷代分光光度計，雜光率僅約五分之一!PCB板的范圍可從細間距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在線檢測方案,以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。曝光時間5msec~65sec*。適用于量測微弱光源以及架設于生產(chǎn)線上即時檢測等多元應用。經(jīng)過特殊設計纏繞的光纖，展現(xiàn)穩(wěn)定的重復再現(xiàn)性量測。小巧輕量化的設計，相較于歷代機型，容積比約減少60%。

如何選購合適的光譜儀

測量波段的確定

光譜儀在選購時首先需要考慮待測樣品的波段響應范圍，即測量所需要關注的波段范圍。因為光譜儀的波段范圍很多，不同的光柵對應不同的波段。只有將待測樣品所關注的波段范圍放在光譜儀的測量波段范圍之內(nèi)才有意義。

自動光學檢查(AOI, Automated Optical Inspection) 為工業(yè)自動化有效的檢測方法，使用機器視覺做為檢測標準技術，大量應用于LCD/TFT、晶體管與PCB工業(yè)制程上，在民生用途則可延伸至保全系統(tǒng)。自動光學檢查是工業(yè)制程中常見的代表性手法，利用光學方式取得成品的表面狀態(tài)，以影像處理來檢出異物或圖案異常等瑕疵，因為是非接觸式檢查，所以可在中間工程檢查半成品。功能豐富的專用軟體，可進行顯微分光、發(fā)光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光譜量測。