大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

在相位差膜等光學(xué)膜中，要求有高透明性、低光彈性率、耐熱性、耐光性、高表面硬度、高機械強度、大相位差、相位差的波長依存性小，以及相位差的入射角依存性小等特性。以往，作為表現(xiàn)透明樹脂材料光學(xué)各向異性的方法，可以進行膜的拉伸配向。已知通過該拉伸配向，由聚甲i基丙i烯酸甲酯(P匿A)或聚乙烯(PS)所形成的膜顯示出負雙折射性，由聚^J吏酯(PC)或環(huán)烯烴類樹脂(COP)所形成的膜顯示出正雙折射性。

相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

光學(xué)薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、別的光學(xué)資料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN,STN)

偏光計測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強度pattern，因與以往的偏光計測裝置相比，其無偏光子回旋機構(gòu)，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。

本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種，會準備Recipe（測量條件File）所以O(shè)perator 放置Sample后，選擇Recipe，即可實現(xiàn)測量。

設(shè)置場所    ?。骸∥輧?nèi)設(shè)置（避免太陽直射）

   周圍溫度    ：２０～３5℃ 不存在溫度急劇變化的場合

   相對濕度    ：３０～８０％

   周圍環(huán)境    ： 濕氣、灰塵少、無腐蝕性氣體、換氣良好

   電壓　    ：　AC110V±10V（單相）

             ：沒有急劇的負載變化 。  

             ：附近沒有顯著噪聲源。接地應(yīng)該是接地電阻１００Ω以下。

本裝置是photonic結(jié)晶偏光子arrayh和CCD camera構(gòu)成的專用偏光計測模組和透過偏光光學(xué)系相結(jié)合進行測定橢圓率，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測定，進而演算其吸收軸，光軸，相對角、RE的裝置。

  本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準sample。