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提高光學(xué)玻璃表面的化學(xué)穩(wěn)定性
提高光學(xué)玻璃表面的化學(xué)穩(wěn)定性,利用化學(xué)鍍膜或真空鍍膜方法,在玻璃表面鍍一層憎水膜,以提高玻璃的化學(xué)穩(wěn)定性,增強(qiáng)玻璃的抗腐蝕能力,減少起霧,為了減輕水性霧對(duì)觀察的影響,也可采用親水材料,鍍上一層透明的具有一定的物理性能偽親水膜,使水霧能全部散開,均勻的分散在膜層中,不影響觀察,當(dāng)大氣干燥時(shí),膜層中的水分自然地?fù)]發(fā)到大氣中。光學(xué)儀器一旦生霉起霧,就造成了不良的影響,而且給修理工作帶來很多麻煩,因此,要以防為主,從儀器設(shè)計(jì)、制造開始就注意搞好防霉防霧,儀器庫(kù)存和使用中加強(qiáng)維護(hù)保養(yǎng),是做好防霉防霧工作重要保證。而如果儀器已經(jīng)生霉起霧,就應(yīng)及時(shí)處理,以免造成更大損失。
的維護(hù)管理儀器設(shè)備成為企事業(yè)單位有效降低成本
儀器設(shè)備的高負(fù)荷使用,往往容易發(fā)生意外故障,特別是光學(xué)儀器若因維護(hù)和使用不當(dāng)而起霧,就不能發(fā)揮儀器的正常作用,而帶來工作上的障礙。所以的維護(hù)管理儀器設(shè)備已成為當(dāng)今企事業(yè)單位有效降低成本,提高勞動(dòng)生產(chǎn)率的有效手段。目前國(guó)內(nèi)企業(yè)設(shè)備維護(hù)管理一般還停留在被動(dòng)的搶修作業(yè)模式,即當(dāng)儀器設(shè)備發(fā)生故障,無法繼續(xù)使用時(shí),維修人員才在時(shí)間內(nèi)將故障排除,而當(dāng)沒有發(fā)生故障時(shí),維修人員只是空閑,所以這樣的管理模式是談不上效率的,因此,儀器設(shè)備的管理也應(yīng)做好計(jì)劃,同樣設(shè)備維護(hù)管理也需要把非計(jì)劃性的工作轉(zhuǎn)化為計(jì)劃性的工作。 合理選擇和使用油脂,光學(xué)儀器上用的各種防塵脂、潤(rùn)油油脂必須是揮發(fā)度極低和化學(xué)穩(wěn)定性好的材料,在光學(xué)儀器的金屬零件上涂油脂時(shí),首先要把零件清洗干凈,讓揮發(fā)完后再涂油脂,并且要涂均勻而不能過多,距光學(xué)件10-15mm的范圍內(nèi),禁止涂潤(rùn)滑油脂和防塵脂,防止油脂擴(kuò)散引起油性霧。
公元1865年麥克斯韋繼法拉第之后集電磁學(xué)大成
公元1865年麥克斯韋繼法拉第之后集電磁學(xué)大成,在1865年他預(yù)言了電磁波的存在,說并指出電磁波只可能是橫波,計(jì)算出電磁波的傳播速度等于光速。 公元1873年麥克斯韋于1873年建立電磁理論,在出版的科學(xué)名著《電磁理論》中系統(tǒng)、、地闡述了電磁場(chǎng)理論,成為經(jīng)典物理學(xué)的重要支柱之一。 公元1886年-公元1888年德國(guó)物理學(xué)家赫茲通過試驗(yàn)驗(yàn)證了麥克斯韋爾的理論,證明了無線電輻射具有波的所有特性,進(jìn)而發(fā)現(xiàn)了無線電波,設(shè)計(jì)出了雷達(dá),開啟了無線電波通信技術(shù),使遠(yuǎn)距離無線測(cè)量?jī)x器的出現(xiàn)成為可能,讓電話、電視等電器有了飛躍發(fā)展。 公元1895年隨著X射線、γ射線先后被德國(guó)科學(xué)家倫琴、法國(guó)科學(xué)家P.V.維拉德發(fā)現(xiàn),因其穿透力這一特性,使儀器的功能與概念被進(jìn)一步推向更深的領(lǐng)域,如檢查機(jī)、檢孔機(jī)、線寬檢測(cè)儀等儀器,就采用了X射線、γ射線的穿透力研發(fā)的先進(jìn)檢測(cè)儀器設(shè)備。
直線度測(cè)量?jī)x的誤差是指實(shí)際直線對(duì)理想直線的變化量
直線度誤差是指實(shí)際直線對(duì)理想直線的變化量,反映了被測(cè)直線的不直程度;直線度誤差可分為給定平面內(nèi)的直線的誤差、給定方向的直線度誤差和任意方向內(nèi)的直線度誤差。
直線度測(cè)量?jī)x可檢測(cè)直線度誤差,下面介紹一下直線度測(cè)量?jī)x,它是由3臺(tái)測(cè)徑儀組成的設(shè)備。
測(cè)量線、棒、管的外輪廓的直線度時(shí),同時(shí)布置以上原理的設(shè)備3臺(tái),三臺(tái)設(shè)備同一時(shí)刻測(cè)量被測(cè)工件的位置數(shù)據(jù)左邊和右邊兩臺(tái)采集的位置連線,計(jì)算出中間設(shè)備的在直線度為0時(shí)的理論位置,與中間一臺(tái)所獲的位置數(shù)據(jù)比較,差值即為被測(cè)工件在當(dāng)前位置的直線偏差。