大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

光譜儀(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供豐富選配套件以及客制化光纖?？梢罁?jù)安裝現(xiàn)場(chǎng)需求評(píng)估設(shè)計(jì)?？伸`活架設(shè)于各種環(huán)境下的i佳即時(shí)量測(cè)系統(tǒng)。

影響膜厚測(cè)量?jī)x的因素

基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的導(dǎo)電性對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的導(dǎo)電性與材料成分和熱處理方法有關(guān)。使用與樣品金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)膜校準(zhǔn)儀器。

基體金屬厚度

每個(gè)儀器具有賤金屬的臨界厚度。大于此厚度，測(cè)量不受基體金屬厚度的影響。

曲率

試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種效應(yīng)總是隨著曲率半徑的減小而增加。因此，測(cè)量彎曲試樣的表面是不可靠的。

確保測(cè)厚儀質(zhì)量的方法：

為了保證設(shè)備的質(zhì)量，不僅要保證質(zhì)量的選擇，還要注意在使用中的操作標(biāo)準(zhǔn)，人員的專業(yè)使用必須保證操作的準(zhǔn)確性，在操作過程中必須注意及時(shí)為主。儀表的維護(hù)

在使用該設(shè)備時(shí)，必須注意每天i打開機(jī)器后半小時(shí)的熱量。在預(yù)熱時(shí)間滿足后，數(shù)據(jù)可以保持在一定的誤差范圍內(nèi)，但不能超過此范圍。當(dāng)產(chǎn)品被測(cè)量時(shí)，必須確定產(chǎn)品的基材和涂層元素。選擇相應(yīng)的測(cè)量方法，時(shí)間必須是標(biāo)準(zhǔn)的，測(cè)試產(chǎn)品的表面應(yīng)該是平滑的，否則會(huì)有很大的誤差。