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發(fā)布時間:2020-12-29 08:54  






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檢測方法/電子元器件

電容器

固定電容器的檢測

A 檢測10pF以下的小電容 因10pF以下的固定電容器容量太小,用萬用表進行測量,只能定性的檢查其是否有漏電,內部短路或擊穿現象。采用X射線裝置,在焊盤層焊料的圖象是“陰影”,這是由于在焊接點焊料處在它上方的緣故。測量時,可選用萬用表R×10k擋,用兩表筆分別任意接電容的兩個引腳,阻值應為無窮大。若測出阻值(指針向右擺動)為零,則說明電容漏電損壞或內部擊穿。

B 檢測10PF~0 01μF固定電容器是否有充電現象,進而判斷其好壞。在當今信息時代,隨著電子工業(yè)的迅猛發(fā)展,計算機、移動電話等產品日益普及。萬用表選用R×1k擋。兩只三極管的β值均為100以上,且穿透電流要些 可選用3DG6等型號硅三極管組成復合管。萬用表的紅和黑表筆分別與復合管的發(fā)射極e和集電極c相接。由于復合三極管的放大作用,把被測電容的充放電過程予以放大,使萬用表指針擺幅度加大,從而便于觀察。應注意的是:在測試操作時,特別是在測較小容量的電容時,要反復調換被測電容引腳接觸A、B兩點,才能明顯地看到萬用表指針的擺動。

C 對于0 01μF以上的固定電容,可用萬用表的R×10k擋直接測試電容器有無充電過程以及有無內部短路或漏電,并可根據指針向右擺動的幅度大小估計出電容器的容量。



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由于焊料或者前置焊球所引發(fā)的“陰影”效果限制了X射線設備的檢測工作,使之僅能粗略地反映BGA的工藝過程缺陷,例如:橋接現象。同時也影響到檢測邊緣部份的工藝缺陷,像焊料不足,或者由于污染引起的斷路現象。


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僅有橫截面X射線檢測技術,例如:X射線分層法,能夠克服上述條件的制約。印刷焊膏因為表面組裝板上已經裝有其他元器件,因此必須采用BGA專用小模板,模板厚度與開口尺寸要根據球徑和球距確定,印刷完畢后必須檢查印刷質量,如不合格,必須將PCB清洗干凈并涼干后重新印刷。橫截面X射線檢測技術具有能夠查出隱藏的焊接點缺陷的能力,通過對焊盤層焊接點的聚焦,能夠揭示出BGA焊接點的連接情況。在同樣的情況下,采用X射線設各所獲得的圖像中,實際情況可能被隱藏掉了,從而不能夠反映出真實的情況。


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不可拆B(yǎng)GA焊接點的斷路

不可拆B(yǎng)GA焊接點處所發(fā)生的斷路現象,通常是由于焊盤污染所引起的,由于焊料不能潤濕印刷電路板上的焊盤,它向上“爬”到焊料球一直到元器件界面上。元件:工廠在加工產品是沒有改變分子成分產品可稱為元件,不需要能源的器件。如前面所敘,電子測試能夠確定斷路現象的存在,但是不能區(qū)別:這是由于焊盤污染所引起的呢?還是由于焊料漏印工藝過程控制不住所引起的?利用X射線設備進行測試,也不能揭示斷路現象,這是因為受到前置焊科球“陰影”的影響。利用橫截面X射線檢測技術,能夠通過在焊盤層和元器件層中間獲取的圖像切片,辨別出這種由于污染所引起的斷路現象。由于污染所引起的斷路現象,會產生細小的焊盤半徑和較大的元器件半徑尺寸,所以可以利用元器件半徑和焊盤半徑的差異來區(qū)分斷路現象是否是由于污染引起的。由于焊料不足所引起的斷路現象其半徑之間的差異是非常小的,只有利用橫截面x射線檢測設備才能夠辯別出這一差異。


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