一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測厚儀可調(diào)整測量位置，非常敏捷快速?；蚴菧y量位置已完成登陸時，可連續(xù)自動測定，利用座標(biāo)補(bǔ)正、連結(jié)頻道，來應(yīng)付各種測量軌跡。亦可用自動測定來作標(biāo)準(zhǔn)片校正。

　　測定部顯示盡像的表示：X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準(zhǔn)儀照射測定物的位置，可由倍率率更機(jī)能來實現(xiàn)盡面上測出物放大。。。

一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

定位方式：

    1、移動平臺：

       A、手動（普通和帶精密滑軌移動）：裝配設(shè)計不同精準(zhǔn)移位從0.5mm-0.005mm不等，移動的靈動性差距也很大。

       B、電動（自動）：裝配設(shè)計不同精準(zhǔn)移位從0.2mm-0.002mm不等

但同樣的手動或者自動，其定位精準(zhǔn)也相差很多。

     2、高度定位：

         A、手動變焦和無變焦

         B、激光對焦和CCD識別對焦

江蘇一六儀器    X熒光光譜測厚儀

下照式設(shè)計：可以快速方便地定位對焦樣品。

  無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

  微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

  接收：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

  精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

  EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

江蘇一六儀器   X射線熒光光譜儀XTU/X-RAY系列 

技術(shù)參數(shù)

X射線裝置：W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管

準(zhǔn)直器φ 0.05 mm  ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 準(zhǔn)直器任意選擇或者任意切換

近測距光斑擴(kuò)散度：9%

測量距離：具有距離補(bǔ)償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)

樣品觀察：1/2.5彩色CCD，變焦功能對焦方式高敏感鏡頭，手動對焦

放大倍數(shù)：光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍

隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 

其它附件：聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機(jī)、附件箱