RoHS分析儀

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能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量:

Q=kE式中，K為入射射線的光子能量;Q為探測器產生的相應電荷量;k為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征的信息。

待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。

X熒光光譜分析儀分類

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X熒光光譜分析儀分類：

X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。

以檢測X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型，以檢測能量特征為原理的稱為能量色散型。

我公司生產的RoHS檢測儀屬于能量色散型X熒光光譜分析儀。相較波長色散型而言，它的缺點是數據精度比波長色散型低。但是操作簡單，無需制樣，采購與維護成本低。

RoHS分析儀種類及原理

RoHS分析儀目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀，又分為能量色散型和波長色散型，能量色散型因其技術原理及結構比波長色散型簡單，現市場上比較常見，其技術原理:

特征X射線

放sbe性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內層電子。當外層電子補充內層電子時，會放she該原子所固有能量的X射線-特征X射線。

元素含量與特征X射線強度的關系

不同元素特征X射線能量各不相同，依此進行定性分析；再根據特征X射線強度大小，可進行定量分析。

可用函數關系式表示為:C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)

式中:Kn(n=1,2,3…)表示第n號元素的待定系數，In(n=1,2,3…)表示第n號元素釋放的特征X射線強度。

由此可知只要通過標定確定系數Kn之后便可進行物質中元素的定量分析了。

北京京國藝科技發(fā)展有限公司本著多年RoHS分析儀行業(yè)經驗，專注RoHS分析儀研發(fā)定制與生產，先進的RoHS分析儀生產設備和技術，建立了嚴格的產品生產體系，想要更多的了解，歡迎咨詢圖片上的熱線電話?。?！

RoHS元素分析儀的應用領域

1.滿足歐盟RoHS指令，以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。

2．RoHS/WEEE針對目前IEC指令中之無鹵素鹵元素含量要求標準，利用HY1832JC可建立快速、非破壞的檢測方法，滿足廠商簡易的需求。

3．電子產業(yè)1、應用於無鹵素材料分析(Halogen Free)2、應用於無鹵素材料分析(Halogen Free),加裝配件可再做全氟辛烷硫磺酸(PFOA/S)等分析

期望大家在選購RoHS分析儀時多一份細心，少一份浮躁，不要錯過細節(jié)疑問。想要了解更多RoHS分析儀的相關資訊，歡迎撥打圖片上的熱線電話！??！