超聲波涂層測(cè)厚儀供應(yīng)

超聲波涂層測(cè)厚儀供應(yīng)1.探頭的置放探頭的置放方式 對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，理當(dāng)使探頭與試件表層保持垂直。2，試件的變形探頭使軟覆蓋層試件變形。因此在這類試件上邊測(cè)到不太可靠的數(shù)據(jù)信息。讀數(shù)次數(shù)一般實(shí)驗(yàn)儀器的每一次讀數(shù)并不完全一致。因此盡量在每一測(cè)量占地面積內(nèi)取好幾個(gè)讀數(shù)，覆蓋層厚薄的一部分區(qū)別，也要求在任一得出的占地面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量。覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。