掃描隧道顯微鏡分辨率極高

掃描隧道顯微鏡分辨率極高，水平方向達(dá)到0.2納米，垂直方向更達(dá)到0.001納米，可以給出樣品表面原子尺度的信息。我們知道，一個(gè)原子的典型線(xiàn)度是0.3納米。對(duì)于單個(gè)原子成像來(lái)說(shuō)，這樣的分辨率已經(jīng)是足夠了。掃描隧道顯微鏡的發(fā)明，促進(jìn)了生物科學(xué)、表面物理、半導(dǎo)體材料和工藝、化學(xué)作用的研究。掃描隧道顯微鏡技術(shù)還在繼續(xù)發(fā)展。例如，為了彌補(bǔ)掃描隧道顯微鏡只能對(duì)導(dǎo)體和半導(dǎo)體進(jìn)行成像和加工這個(gè)缺陷，研制出能在納米尺度對(duì)絕緣體進(jìn)行成像和加工的原子力顯微鏡。

正置與倒置金相顯微鏡的區(qū)別

了解正置與倒置金相顯微鏡的主要區(qū)別： 倒置金相顯微鏡:主要適用對(duì)各種金屬和合金材料的組織結(jié)構(gòu)、鑄件質(zhì)量以及熱處理后相位組織進(jìn)行研究分析工作，是金屬學(xué)研究的必備儀器，由于試樣的觀察面倒置不受高度限制，在制備試樣時(shí)只要一個(gè)觀察面平整即可。 正置金相顯微鏡具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，因此更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。大于3 微米小于20微米觀察目標(biāo)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

取樣原則用金相顯微鏡對(duì)金屬的一小部分進(jìn)行金相研究

取樣原則 用金相顯微鏡對(duì)金屬的一小部分進(jìn)行金相研究，其成功與否，可以說(shuō)首先取決所取試樣有無(wú)代表性。在一般情況下，研究金屬及合金顯微組織的金相試樣應(yīng)從材料或零件在使用中 的部位截??；或是偏析、夾雜等缺陷嚴(yán)重的部位截取。在分析失效原因時(shí)，則應(yīng)在 失效的地方與完整的部位分別截取試樣，以探究其失效的原因。對(duì)于生長(zhǎng)較長(zhǎng)裂紋的部件， 則應(yīng)在裂紋發(fā)源處、擴(kuò)展處、裂紋尾部分別取樣，以分析裂紋產(chǎn)生的原因。研究熱處理后的 零件時(shí)，因組織較均勻，可任選一斷面試樣。若研究氧化、脫碳、表面處理（如滲碳）的情況， 則應(yīng)在橫斷面上觀察。有些零部件的“重要部位”的選擇要通過(guò)對(duì)具體服役條件的分析才能 確定。