蔡司  ConTURA   從容應(yīng)對各種挑戰(zhàn)--無論現(xiàn)在還是未來

ZEISS CMM CONTURA廣泛適用于各類型工件的測量，在大批量復(fù)雜零部件的生產(chǎn)過程中，快速獲得清晰的測量結(jié)果至關(guān)重要。關(guān)鍵時刻，測量結(jié)果更須確鑿無疑。來自蔡司的工業(yè)測量技術(shù)保證了高水平的質(zhì)量控制。 ZEISS CMM CONTURA廣泛適用于各類型工件的測量，固定平臺橋式機體設(shè)計，融合先進的DLC鉆石涂層材質(zhì)橫梁和Z軸結(jié)構(gòu)，結(jié)合機器移動時高穩(wěn)定設(shè)計，兼之高精度掃描測頭系統(tǒng)及眾多技術(shù)優(yōu)勢，確保了系統(tǒng)的精度及動態(tài)性能；同時，高剛性結(jié)構(gòu)提高了系統(tǒng)對于環(huán)境的抗干擾性能及長久的穩(wěn)定性。

蔡司三坐標(biāo)測量機

需要注意的事

三坐標(biāo)測量機在測量零件時，是用探針的寶石球與被測零件表面接觸，接觸點與系統(tǒng)傳輸?shù)膶毷蛑行狞c的坐標(biāo)相差一個寶石球的半徑，需要通過校驗得到的探針的實測半徑值，對測量結(jié)果補償修正。

在選擇三坐標(biāo)測頭的過程中，常常出現(xiàn)是由預(yù)算決定配置，從而導(dǎo)致配置過?；蛘吲渲貌蛔愕膶擂吻闆r。

配置三坐標(biāo)測量機的測頭時，實際會面臨來自多個方面的選擇困難，比如“固定式還是旋轉(zhuǎn)式”、“掃描測頭還是觸發(fā)測頭”、“三軸聯(lián)動還是五軸聯(lián)動”、“接觸式測頭還是光學(xué)測頭”等等，而且還逃不開預(yù)算的限制。雖然后一項因素有時能夠起到一票否決的作用，但我們有必要從技術(shù)角度了解各類測頭的特點及適用場合和限制，以便在綜合條件下能夠選到適宜的測頭，滿足測量要求。

接觸式測頭采點

非接觸式光學(xué)測頭直接利用光點的反射信號來獲取被測點的坐標(biāo)，不存在半徑補償?shù)沫h(huán)節(jié)，因此能夠完全余弦誤差產(chǎn)生的源頭。再者，在測量易變性零件時，雖然測力不大，但零件還是會在力的作用下造成一定變形(例如下圖中的薄葉片，測量頂部截面時，葉盆時葉片受到測力影響朝葉背方向彎曲，反之亦然)。雖然彎曲變形量不大，但是考慮到葉片本身極薄，其相對變形量還是非?？捎^的，會對得出的輪廓度與位置度都造成非常大的影響。