光學(xué)影像測(cè)量儀檢測(cè)是一種常見測(cè)量技術(shù)，通過提供了量化的圖像測(cè)量方式，獲得測(cè)量數(shù)據(jù)，從而對(duì)零部件公差尺寸進(jìn)行把控，是機(jī)械、電子制造業(yè)，計(jì)量測(cè)試所廣泛使用的一種多用途計(jì)量儀器。

影像測(cè)量儀的誤差來源有哪些呢？ （1）光柵尺記數(shù)的偏差; （2）操作臺(tái)挪動(dòng)時(shí)存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; （3）操作臺(tái)兩精l確測(cè)量軸平整度帶的偏差; （4）攝像鏡頭直線光軸與操作臺(tái)不垂直帶的偏差; （5）精l確測(cè)量工作溫度轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的偏差; （6）燈源照明燈具標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的自動(dòng)對(duì)焦和指向偏差。

2.5次元影像測(cè)量儀與二次元影像儀的區(qū)別有哪些呢？

2.5次元測(cè)量儀，是指在二次元的基礎(chǔ)上，以光學(xué)影像測(cè)量可測(cè)高度及深度，或者在鏡頭上加個(gè)測(cè)針，用光學(xué)鏡頭測(cè)量平面尺寸、用測(cè)針進(jìn)行接觸式測(cè)量可測(cè)深度，達(dá)到3維測(cè)量的效果，但此3維測(cè)量僅是簡易的3D測(cè)量，未能真正地實(shí)現(xiàn)3維全部空間尺寸的測(cè)量，因此被稱為2.5次元。

三維形貌測(cè)量儀是目前國內(nèi)外追捧使用的非接觸式測(cè)量設(shè)備，其采用國l際先進(jìn)的外插式多頻相移技術(shù)、相位測(cè)量技術(shù)和計(jì)算機(jī)視覺技術(shù)，其測(cè)量過程是：成功標(biāo)定設(shè)備后，將光柵投影裝置投影到被測(cè)物上，同時(shí)兩個(gè)成一定角度的攝像機(jī)同步采集光柵投射后的被測(cè)物，然后再軟件里面對(duì)圖像進(jìn)行解l碼和相位解包裹計(jì)算，并根據(jù)立體匹配技術(shù)和三角測(cè)量技術(shù)，解算出攝像機(jī)公共視區(qū)內(nèi)像素點(diǎn)的三維坐標(biāo)