重新定義將實現(xiàn)量值傳遞溯源鏈路扁平化， 使量值溯源鏈條更短、速度更快、測量結果更準更穩(wěn)。我們目前依靠的實物基準逐級傳遞的計量模式，費時費力、效率低下、誤差放大等問題，將得到解決。通過嵌入芯片級量子計量基準，將能把高測量精度直接賦予制造設備并保持長期穩(wěn)定，從而實現(xiàn)對產品制造全過程的更準確穩(wěn)定地感知和控制，有力支撐流程再造、節(jié)能減排和質量提升。這將為當前世界范圍內正在進行的新一輪以信息技術、大數據和人工智能為特征的科技革命，插上飛翔的“翅膀”。

儀器校準是在規(guī)則條件下，為斷定丈量設備所指示的量值與對應的由規(guī)范所復現(xiàn)的量值之間聯(lián)系的一組操作。校準成果既可賦予被丈量以示值,乂可斷定示值的修正值。一起校準也可斷定其他計量特性,如影響量的效果等。因而,在計量承認進程中對丈量設備進行校準，其意圖即是為了斷定丈量設備的計量特性。用于校準的計量規(guī)范其量值有必要溯源至國家計量基準或社會共用計量規(guī)范。

它能達到很高的精1確度，例如利用精密螺紋副測長和多齒分度技術測角可分別達到 2微米/1000毫米和0.1″/360°的精1確度。應用光學原理的測長技術也出現(xiàn)較早。19世紀末出現(xiàn)立式測長儀（見測長機），20世紀20年代前后已應用自準直、望遠鏡、顯微鏡和光波干涉等原理測長，使工業(yè)測量進入不接觸測量領域，解決了一些小型復雜形狀工件，例如螺紋的幾何參數、樣板的輪廓尺寸和大型工件的直線度、同軸度等形狀和位置誤差的

到了0.01～0.02微米/100 毫米。