大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

瞬間測量絕i對量子效率（絕i對量子收率）。適用于粉體、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的迷光。另，采用了積分半球unit，實現(xiàn)了明亮的光學(xué)系的同時，運用其再激勵熒光補正的優(yōu)點，可進行高i精度的測量。另，QE-2100對應(yīng)范圍廣，從量子效率的溫度依賴性測量或紫外～近紅的的波長范圍。

Option

? 自動取樣器

? 樣品支架

①粉體測量用　SUS304制、有石英蓋子

②膜測量用　透過測量用樣品支架

軟件

直觀明了、使用方便的專業(yè)軟件。組裝好樣品測量用cell便可輕松測量量子効率（量子收率）、激勵光譜等。

熒光素的激勵光譜測量

激勵光譜表示的是在哪段激勵波長中，熒光強度是光譜。右圖，表示的是熒光素的激勵光譜（藍色）和熒光強度激勵波長（493nm）時的熒光光譜（綠色）。

量子Dot的內(nèi)部量子効率（內(nèi)部量子收率）測量

量子Dot通過改變組成和內(nèi)部構(gòu)造，調(diào)整光學(xué)的特性的材料而被關(guān)注。量子Dot的激勵光譜和、激勵波長370nm時的熒光光譜見下圖。

QE-2100

測量部、檢出部、光源部是獨立的，除了標準功能，還可根據(jù)用途擴展功能