大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

近紅外光譜儀的優(yōu)勢

適用的樣品范圍廣

通過相應(yīng)的測樣器件可以使用近紅外光譜儀直接測量液體、固體、半固體和膠狀體等不同物態(tài)的樣品光譜測量方便。而且近紅外光譜儀測量時對樣品無損傷，可以在分析和醫(yī)i藥臨床領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。狹義的AOI設(shè)備則指目前工業(yè)上急需使用，在IC及一般電子業(yè)、機(jī)械工具/自動化機(jī)械、電機(jī)/電子工業(yè)、金屬鋼鐵業(yè)、食品加工/包裝業(yè)、紡織皮革工業(yè)、汽車工業(yè)、建筑材料、保全/監(jiān)視系統(tǒng)等。此外，還能夠廣泛地使用于農(nóng)業(yè)食品等各個行業(yè)和領(lǐng)域，而且同樣都可以發(fā)揮的效果。

儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。光譜儀分類根據(jù)現(xiàn)代光譜儀器的工作原理，光譜儀可以分為兩大類：經(jīng)典光譜儀和新型光譜儀。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的i大尺寸要求為直徑51mm,高40mm.

運(yùn)用高速視覺處理技術(shù)自動檢測PCB板上各種不同帖裝錯誤及焊自動光學(xué)檢測接缺陷.PCB板的范圍可從細(xì)間距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在線檢測方案,以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量 .通過使用AOI作為減少缺陷的工具,在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤,以實(shí)現(xiàn)良好的過程控制.早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報(bào)廢不可修理的電路板.