本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行量子效率測(cè)試的系統(tǒng)。

FE3000反射式膜厚量測(cè)儀特點(diǎn)：寬闊的波長(zhǎng)量測(cè)范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測(cè)范圍。(1nm~250μm)對(duì)應(yīng)顯微鏡下的微距量測(cè)口徑。不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過(guò)率大于98%，全波段無(wú)熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測(cè)試（數(shù)量5個(gè)），尺寸直徑≤10mm

半積分球。大塚電子獨(dú)有專利，提高積分球測(cè)試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內(nèi)獨(dú)i家）；(2)多次激發(fā)修正。大塚電子獨(dú)有專利，i大程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來(lái)的多次激發(fā), 對(duì)粉末和固體測(cè)試精度提高明顯（世界范圍內(nèi)獨(dú)i家）；(3)光譜可擴(kuò)展, 光譜探測(cè)范圍可擴(kuò)展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級(jí)配備控溫系統(tǒng)（-30℃-300℃）

不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過(guò)率大于98%，全波段無(wú)熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測(cè)試（數(shù)量5個(gè)），尺寸直徑≤10mm

     原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實(shí)現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來(lái)照射熒光材料樣品，再以光譜儀對(duì)產(chǎn)生的發(fā)光光譜進(jìn)行測(cè)試并對(duì)其熒光材料特性做出評(píng)價(jià)。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對(duì)光譜進(jìn)行測(cè)量。

光纖在極度彎曲后會(huì)有可能發(fā)生斷裂。故,請(qǐng)將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過(guò)于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內(nèi)，然后放入積分半球內(nèi)。