為使用小于1/6'的感光芯片位于內(nèi)窺鏡軸端直接取像，經(jīng)訊號(hào)傳輸線傳送至監(jiān)視器顯像，因影像直接轉(zhuǎn)成電氣訊號(hào)所以內(nèi)窺鏡無(wú)法直接目視，照明采用LED位于軸端直接照明；優(yōu)點(diǎn)為制造成本相對(duì)較低且與軸長(zhǎng)無(wú)關(guān)，以屏幕觀察輕松容易，能儲(chǔ)存照片、錄像為離線分析作依據(jù)；缺點(diǎn)為受限于感光芯片位于軸端，內(nèi)窺鏡軸徑采用1/18”感光芯片較小只能達(dá)5.5mm（保證耐10m水壓并集成高亮度LED燈）左右，如適當(dāng)降低可靠性要求，可以做到3.8mm。另外耐環(huán)境性較差，容許耐溫性及耐震性均不及光學(xué)視內(nèi)窺鏡，無(wú)法應(yīng)用于各種場(chǎng)合。

內(nèi)窺鏡的操作

對(duì)于各種工業(yè)設(shè)備和儀器儀表來(lái)說(shuō)，正確的操作，以及定期的清潔、維護(hù)和保養(yǎng)都能夠有效地延長(zhǎng)產(chǎn)品的使用壽命。許多工業(yè)產(chǎn)品的售后問(wèn)題，有相當(dāng)一部分是因?yàn)槭褂没蛘呔S護(hù)不當(dāng)而造成。內(nèi)窺鏡可應(yīng)用于各種生產(chǎn)過(guò)程中的缺陷檢測(cè)、狀態(tài)檢查，以及質(zhì)量控制，是工業(yè)上一種常見的無(wú)損檢測(cè)手段。內(nèi)窺鏡常常要面臨惡劣的檢測(cè)環(huán)境，經(jīng)常需要檢測(cè)水、油、腐蝕性物體的管道或者部件內(nèi)部，更好地對(duì)其進(jìn)行操作、清潔、保養(yǎng)和維護(hù)，就更有必要了。取出儀器時(shí)，松開儀器外箱鎖扣，一邊取出儀器主機(jī)，一邊盤出管線，讓其從儀器箱中逐漸退出，避免在取出過(guò)程稿中產(chǎn)生碰撞，不要過(guò)度用力拉扯，避免探頭受損及鏡片刮花，注意輕拿輕放。

三維立體相位掃描測(cè)量技術(shù)

三維立體相位掃描測(cè)量技術(shù)還增加了深度剖面測(cè)量等新型的測(cè)量模式。僅需選擇兩個(gè)測(cè)量點(diǎn)，系統(tǒng)就會(huì)自動(dòng)在兩點(diǎn)之間畫一條線，建立垂直于掃描表面的截面，可以直接得到剖面深點(diǎn)，生成剖面視圖，沿剖面的所有點(diǎn)的深度都可以直接測(cè)出，通過(guò)三維點(diǎn)云圖可以一次得到測(cè)量區(qū)域內(nèi)深點(diǎn)的位置和深度值，有助于對(duì)缺陷的形成原因、性質(zhì)及缺陷發(fā)展趨勢(shì)進(jìn)行判斷，有助于對(duì)葉片上的凹坑、掉塊、燒蝕等損傷的深度測(cè)量。若使用雙物鏡測(cè)量法的深度模式，則需要先放置3個(gè)測(cè)量點(diǎn)，建立一個(gè)基準(zhǔn)平面，然后在凹坑或掉塊內(nèi)手動(dòng)選取“深點(diǎn)”，通過(guò)深度值的實(shí)時(shí)顯示人為地判斷該區(qū)域深點(diǎn)位置。因手動(dòng)選點(diǎn)的數(shù)量有限，將導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果的可重復(fù)性差，測(cè)量精度不能被保證，且測(cè)量效率低。