計(jì)量校準(zhǔn)的介紹　

“常規(guī)條件”是指測量儀器、測量人員、測量方法、環(huán)境條件為實(shí)驗(yàn)室在其認(rèn)可條件下所正常達(dá)到的要求，而被校準(zhǔn)對象必須處于“接近理想”的狀態(tài)。CMC不能包括被校準(zhǔn)儀器的缺陷的物理效應(yīng)影響。必須強(qiáng)調(diào)的是，這并不是說不考慮被校準(zhǔn)儀器對不確定度的影響，而是這種影響處于理想的狀態(tài)。也就是說，針對一種實(shí)際存在的被校準(zhǔn)儀器，且準(zhǔn)確度高，分辨力小

針對一種實(shí)際存在的被校準(zhǔn)儀器，且準(zhǔn)確度，分辨力小，重復(fù)性小，漂移小，其他特性影響小。 　對于校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室，其CMC與開展項(xiàng)目的測量不確定度評估可以合并完成，校準(zhǔn)證書所給出的不確定度也是依據(jù)同樣的流程。鑒于JJF1033《計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)考核規(guī)范》中的測量不確定度評估已采用GUM方法，通過計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)考核的實(shí)驗(yàn)室可以把這幾個方面的測量不確定度評定結(jié)合起來。  

計(jì)量測量誤差的介紹

制造與裝調(diào)誤差。測量器具的各個零部件的制造與裝調(diào)誤差都會引起測量誤差。例如，表盤的制造安裝誤差測微螺桿的螺距誤差，光學(xué)系統(tǒng)的放大倍數(shù)、鑒別率的誤差以及電器元件各參數(shù)誤差等。讀數(shù)方式誤差  對于采用指針或指標(biāo)線對準(zhǔn)刻線進(jìn)行計(jì)數(shù)的裝置所造成的讀數(shù)方式誤差由對準(zhǔn)誤差、視差和估讀誤差三部分組成。