相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點：可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

購買須知

1、廠家貨源正i品

日本原裝。

2、關(guān)于尺碼

按照出廠產(chǎn)品資料有說明。

3、關(guān)于顏色

4、關(guān)于客服

客戶全天24小時在線，如需緊急處理，請致電公司 。

5、關(guān)于售后

日本產(chǎn)品保修一年，消耗品不再維修范圍內(nèi)。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

偏光計測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強度pattern，因與以往的偏光計測裝置相比，其無偏光子回旋機構(gòu)，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。

因本系統(tǒng)為精密光學(xué)測定裝置，作為設(shè)置場所，請考慮以下條件。萬一，下記條件未被滿足的場合，本系統(tǒng)的性能有可能無法發(fā)揮其100%.請注意。

  本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準(zhǔn)sample。

  本軟件，通過自動制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動ＸＹ平臺來實施cellgap檢查每個樣品都備有檢查菜單，并且樣品可自動運輸，操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。