鍍層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。


使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定a 基體金屬特性對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。b 基體金屬厚度檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。c 邊緣效應(yīng)不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

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隨著經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，我國(guó)對(duì)礦產(chǎn)資源的需求量必然上升，然而中國(guó)的礦藏資源雖豐富，但窮礦多富礦少，礦石品質(zhì)不及一些海外國(guó)家。當(dāng)前我國(guó)在一些礦產(chǎn)資源上對(duì)外依存度較高，已經(jīng)嚴(yán)重制約著我國(guó)相關(guān)產(chǎn)業(yè)的健康發(fā)展，因此國(guó)家相關(guān)部門紛紛出臺(tái)政策鼓勵(lì)企業(yè)“走出去”，支持企業(yè)到境外獨(dú)資或合資開礦。來吧，讓浪聲科學(xué)和你一起見證成功的喜悅！