全部充滿的電池不能完成多次熔接

?如果不開啟節(jié)電功能，每次熔接的電池容量消耗將增大，從而減少熔接次數(shù)。

?由于電池內(nèi)部是由化學(xué)物質(zhì)組成，所以溫度過低會導(dǎo)致容量降低，尤其是在零度以下更為嚴重。

?在高海拔地區(qū)，為保證熔接質(zhì)量，設(shè)備的熔接放電電流將會增大。在這種條件下，電池容量下降速度較低海拔地區(qū)的速度要快。

?交流適配器不能正確的給電池充電。

新手使用光纖熔接機易犯的幾個錯誤（4）

光纖出現(xiàn)微彎曲：

   光纖出現(xiàn)微彎曲一般是光纖上過度的壓力導(dǎo)致的，光纖微彎曲會導(dǎo)致信號質(zhì)量下降，而且這種問題光憑肉眼很難發(fā)現(xiàn)，除非用OTDR去檢查。

   是什么造成光纖微彎曲？應(yīng)該是光纖上過度的壓力。常見的原因是當固定光纜時過緊。其他造成光纖微彎曲的原因可能是光纜在設(shè)備面板轉(zhuǎn)軸位置造成的。

   對于光纖熔接來說，一個好的選項是使用透明的套管來包裝熔接點。這種松套管會塑形到透明套管形成緊密的封裝。然后這些透明套管被放入接線盤中并固定。固定的結(jié)會在硬塑料套管外層自由滑動。這可以避免光纖移動時任何擠壓，造成今后不必要的許多問題。

OTDR脈沖寬度和平均時間設(shè)置

  理論上講，對于同一段光纖，脈沖寬度越大，距離測試誤差就越大。但是若脈沖寬度很小，則不能準確識別光纖末端與噪聲電平的界線。OTDR操作人員應(yīng)根據(jù)實際情況選擇適當?shù)拿}沖寬度，原則是在保證能識別光纖末端的情況下，盡可能地小地設(shè)置脈沖寬度。

在保證能識別光纖末端的情況下，盡可能小地設(shè)置脈沖寬度

   一般來說，很難機械地定義測試距離與所用脈沖寬度的關(guān)系，因為每根光纖的衰耗不同，很難用標準的尺度去衡量到底用多大的脈沖寬度去測試一定距離的光纖。但是，有兩個原則是必須把握的：

  1、用盡可能小的脈沖寬度去測試光纖，這樣距離和衰耗的精度才能得到保證。只有脈沖寬度小到能夠能夠看到大致的曲線形狀，就可以通過平均來測出曲線。

  2、當OTDR脈沖寬度確定以后，所選取的平均時間應(yīng)該足夠長，一般在15秒至60秒之間。被測光纖越長，平均時間約長（同時脈沖寬帶也約大）。