活度計(jì)

相關(guān)定義：放1射性活度是指每秒鐘有多少個(gè)原子核發(fā)生衰變。對(duì)熱中子場的情況，產(chǎn)生率可表達(dá)為P=NtδoΦ，式中Nt為樣品中被用于制備放射源的靶核總數(shù)，而且認(rèn)為在輻照過程中保持恒定。放1射性核素每秒有一個(gè)原子發(fā)生衰變時(shí)，其放1射性活度即為1貝可  。在一團(tuán)固定輻射核素中，貝可的數(shù)值會(huì)隨時(shí)間改變。因此，對(duì)于短壽命的放1射性同位素，其放1射性衰變采樣率須有時(shí)間標(biāo)示，有時(shí)候須調(diào)整至某特定日期（過去或未來的日期）。

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活度

活度不能解決冶金熔體的結(jié)構(gòu)問題。01uCi）●靜電計(jì)精度：優(yōu)于±2%●系統(tǒng)精度：優(yōu)于FSD的±0。它能指出組分在真實(shí)溶液與理想溶液中熱力學(xué)作用上的偏差，但不能提供造成偏差的原因。由于高溫實(shí)驗(yàn)條件下測定活度數(shù)據(jù)的困難，長期以來不少學(xué)者提出組分相互間的結(jié)構(gòu)模型，借助于統(tǒng)計(jì)熱力學(xué)進(jìn)行計(jì)算，企圖導(dǎo)出一系列公式以之對(duì)組分的活度系數(shù)進(jìn)行預(yù)測，這對(duì)某些二元合金取得了一定的成功，但這些半經(jīng)驗(yàn)公式只適用于某一特殊體系的物質(zhì)，或某一體系的特殊的濃度范圍，迄今尚未能找出適用于不同類型的普遍的合金體系的通用表達(dá)式。同樣地，對(duì)二元系爐渣也有較好的模型，但尚很不成熟，不足以適用于所有不同類型的二元系爐渣。對(duì)三元系或多元爐渣的應(yīng)用則更談不到了。

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應(yīng)用

在人工制備源時(shí)，如果反應(yīng)堆中的中子注量率或加1速器中帶電粒子束流強(qiáng)度是恒定的，則制備的人工性核素的產(chǎn)生率P是恒定的，而性核素同時(shí)又在衰變，因此它的數(shù)目變化率為dn（t）/dt=P-λN（t）。備有一臺(tái)性能優(yōu)良并能測量各種核素的活度計(jì)，對(duì)醫(yī)院的長期發(fā)展是十分必要的，對(duì)用藥前的活度檢測和質(zhì)量監(jiān)控也是必不可少的。對(duì)熱中子場的情況，產(chǎn)生率可表達(dá)為P=NtδoΦ，式中Nt為樣品中被用于制備源的靶核總數(shù)，而且認(rèn)為在輻照過程中保持恒定；δo為靶核的熱中子截面；Φ為熱中子的注量率。這一情況相當(dāng)于兩代連續(xù)衰變時(shí)母核有恒定的衰變率Jo。根據(jù)長期平衡，人工性核素的衰變率（或活度）終將達(dá)到Jo，而不可能超過Jo，其活度有一飽和值Jo。

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活度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)

活度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)當(dāng)時(shí)國內(nèi)產(chǎn)品性能指標(biāo)制定的，要求是比較低的。至少在以下幾方面應(yīng)提高標(biāo)準(zhǔn)：

1、降低光子能量范圍低能探測限。使得一些低能核素，如241Am等列入測量核素。

2、增加測量核素?cái)?shù)量。目前指1定的核素只有13個(gè)，實(shí)在太少。放射源分類辦法列舉了常用核素60多種，這些核素按活度大小，從高到低將源分為Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ、Ⅴ類。除Ⅰ、Ⅱ類源外，大部分γ射線源應(yīng)能用活度計(jì)測量。

3、應(yīng)降低活度測量范圍下限值。目前標(biāo)準(zhǔn)要求的活度計(jì)達(dá)不到測量Ⅴ類源的下限值，也就無法用活度計(jì)區(qū)分一些常用核素，像60Co、137Cs、192Ir、201Tl、226Ra、241Am等是屬于Ⅴ類源還是屬于豁免活度。

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