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高頻燃燒紅外吸收光譜法測定鎢中超低碳:比重鎢合金(高密度鎢合金)是以鎢為基體(鎢含量為85%-98%),加 入 少 量 的Ni、Cu、Fe、Co、Mo、Cr等元素組成的合金體系,一般分為W-Ni-Cu和W-Ni-Fe兩大系列。這類合金具有一系列優(yōu)異的物理機械性能,如強度高、硬度高、延性好、韌性強、熱膨脹系數(shù)小、導(dǎo)電導(dǎo)熱性強、抗腐蝕和抗1氧化性強、機加工和可焊性強等。因此,在科學(xué)領(lǐng)域、工業(yè)和民用工業(yè)中已得到廣泛的應(yīng)用 。 在生產(chǎn)飛機配重塊和屏蔽件等產(chǎn)品時,發(fā)現(xiàn)當(dāng)基體鎢或高比重鎢合金中的碳含量超過某個值(約幾十ug/g)后,會導(dǎo)致產(chǎn)品中產(chǎn)生空隙,即密度達不到美國材料與試驗協(xié)會ASTM的要求,因此需要檢測鎢和鎢基混合物(用來制造高比重鎢合金) 中的碳含量。鑒于高頻紅外法的很多優(yōu)點,故采用納克高頻紅外碳硫儀對鎢及鎢基混合物中的碳進行測定。由于要求測定的樣品中碳含量較低,為了得到準(zhǔn)確的測定結(jié)果,試驗中對工作曲線的選擇、空白值、樣品稱樣量、助熔劑等做了詳細的試驗,試驗效果令人滿。
納克CS-3000G雙爐碳硫分析儀日常操作
一. 樣品準(zhǔn)備
按ISO 14284或適當(dāng)?shù)膰覙?biāo)準(zhǔn)制取樣品。
坩堝預(yù)處理:碳和硫的污染物通??赏ㄟ^將坩堝置于富空氣的電爐中灼燒除去,1000℃灼燒時間不少于40分鐘,1350℃灼燒時間不少于15分鐘。然后將坩堝取出,置于干凈的耐熱盤中,冷卻2~3分鐘,將坩堝貯存于干燥器中。
二. 儀器開機
1 通氣:打開動力氣和氧氣氣瓶上的調(diào)壓閥,將輸出壓力調(diào)至0.2MPa~0.3MPa之間。
2 通電:打開儀器后面板主機電源,至少預(yù)熱1小時。
3 打開計算機。
4儀器預(yù)操作:在坩堝托上放一空坩堝,并在“樣品質(zhì)量”處輸入任意質(zhì)量(一般輸入1g),然后點擊“開始”,等一個分析過程結(jié)束后觀察基線。
5 檢查儀器分析氣流量是否正常。
6 管式爐分析:調(diào)入管式爐分析方法,設(shè)置爐溫,等待爐溫到達設(shè)定值。
三. 分析測試
1儀器重復(fù)空燒(在坩堝托上放一空坩堝,并在“樣品質(zhì)量”處輸入任意質(zhì)量(一般輸入1g),然后點擊“開始”)幾次,基線穩(wěn)定后分析3個廢樣以使氣路對硫的吸附提前飽和。
2挑選一種合適含量的標(biāo)準(zhǔn)樣品進行分析,分析結(jié)果滿足要求即可進行樣品分析。
3 稱樣:在天平上稱好樣品,并在軟件中輸入“樣品名稱”、“樣品質(zhì)量”和“鎢粒質(zhì)量”(如果天平已用數(shù)據(jù)線與計算機連接,則選擇“自動讀數(shù)”,計算機自動讀取質(zhì)量)。
4 分析:將稱好樣品的坩堝放在坩堝托上,點擊“開始”,則自動關(guān)爐,分析開始。
5分析結(jié)束,自動開爐后,更換坩堝,重復(fù)3.3~3.4步驟進行下一次分析。
6 根據(jù)需要統(tǒng)計或打印分析數(shù)據(jù)。
7 管式爐分析:在天平上稱好樣品,并在軟件中輸入“樣品名稱”、“樣品質(zhì)量”,點擊開始按鈕,等待沖洗和調(diào)零,當(dāng)軟件開始采集基線的時候,將瓷舟用干凈的鑷子夾到管式爐的入口處,然后將瓷舟緩慢推入燃燒管內(nèi),抽出樣品推具,關(guān)好爐門,扳上排空開關(guān)。等待分析結(jié)果。
四. 儀器關(guān)機
紅外碳硫分析儀主要用于測定金屬、礦石、陶瓷等物質(zhì)中所含碳及硫成份的含量,原理是將一定重量的樣品加助熔劑后在高頻爐中高溫加熱燃燒,使樣品中的碳、硫與氧氣反應(yīng)生成二氧化碳和氣體,在載氣的帶動下經(jīng)過氣路處理系統(tǒng)進入二氧化碳和的檢測室,利用二氧化碳和分別在4.26微米 及7.40微米處,具有很強的特征吸收這一特性,通過測量氣體吸收光強分析二氧化碳和的含量,從而得到樣品中碳、硫成份的百分含量。
紅外碳硫分析儀之程序升溫
紅外碳硫分析儀試樣中的碳、硫經(jīng)過富氧條件下的高溫加熱,氧化為二氧化碳、氣體方法具有準(zhǔn)確、快速、靈敏度高的特點,高低碳硫含量均使用,采用此方法的紅外碳硫分析儀,自動化程度較高,適用于分析精度要求較高的場合。試樣的燃燒溫度、高碳高硫的釋放速率對分析的精度都有一定的影響。市場上的高頻爐都不能很好地解決這些問題。比如高碳升溫曲線,相對于常規(guī)的不可控功率,明顯的減少了粉塵,同時控制了碳的釋放速度,從而顯著地提高了分析精度;超低含量的升溫曲線,可以消除被測樣品表面碳的空白影響,同時通過適當(dāng)?shù)墓β士刂?,增加被測樣品的稱樣量,從而減少助熔劑空白的影響。