光學影像測量儀檢測是一種常見測量技術，通過提供了量化的圖像測量方式，獲得測量數據，從而對零部件公差尺寸進行把控，是機械、電子制造業(yè)，計量測試所廣泛使用的一種多用途計量儀器。

影像測量儀的誤差來源有哪些呢？ （1）光柵尺記數的偏差; （2）操作臺挪動時存有的平行度、角擺產生的偏差; （3）操作臺兩精l確測量軸平整度帶的偏差; （4）攝像鏡頭直線光軸與操作臺不垂直帶的偏差; （5）精l確測量工作溫度轉變產生的偏差; （6）燈源照明燈具標準的轉變產生的自動對焦和指向偏差。

蘇州盟訊電子有限公司座落于風景秀麗的歷史文化名城———江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)。是一家光學薄膜相關設備集研發(fā)、設計、加工、銷售、服務為一體的制造型公司，專注于光學微結構熱壓設備，工藝及服務，公司擁有設計經驗8年 /工藝經驗5年 ，以其自主研發(fā)，技術創(chuàng)新，不斷推新導光膜卷/片材熱壓設備﹑同時適用于LED導光板/擴散板/PS/PMMA/照明/面板/燈飾/燈箱/電視TV等納米導光板片材熱壓設備﹑激光鐳射/金屬雕刻機，不銹鋼板雕刻激光設備，304不銹鋼板,8/10/12K，進口日料超鏡面覆膜不銹鋼板/帶，等一系列光學膜周邊配套設備及周邊輔材，

三維表面形貌測量儀可用于物體表面三維形貌和變形測量。由于該系統既可配備10倍變焦遠距離顯微成像鏡頭，也可配備普通變焦鏡頭，使得該系統能同時滿足細觀及宏觀的測量要求。不僅可用于微電子、生物、微機械等微細結構的形貌及變形測量，也可用于混凝土結構、巖土試樣等大型構件表面形貌和變形測量。系統配有專用的相移條紋圖像處理軟件，使得系統測量精度明顯提高，并且使用方便、操作簡單。

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隨著半導體技術的電子技術工藝的發(fā)展，電子產品都往小型化，輕薄化發(fā)展。iWatch的一經推出，穿戴電子產品成為了一個新的電子設備應用潮流。隨著電子產品的小型化，器件體積越做越小，空間就緊湊起來，這對器件加工尺寸及工藝的容差要求就越來越高。

這款儀器采用非接觸式線光譜共焦快速掃描技術，能夠高l精度還原產品的3D結構，對肉眼不可見的結構缺陷都能準確檢測。因為具有較快的掃描速度，微米級別的精度和超l強的穩(wěn)定性，一經推出立馬成為精密生產商的新寵。在精密鑄件、精密點膠、3D玻璃，半導體缺陷檢測和多層光學薄膜厚度檢測，就是這款產品的主要應用領域。