大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

硬涂層膜厚度的測量[FE-0004]

近年來，使用具有各種功能的高i性能薄膜的產品被廣泛使用，并且根據(jù)應用不同，還需要提供具有諸如摩擦阻力，抗沖擊性，耐熱性，薄膜表面的耐化學性等性能的保護薄膜。通常保護膜層是使用形成的硬涂層（HC）膜，但是根據(jù)HC膜的厚度不同，可能出現(xiàn)不起保護膜的作用，膜中發(fā)生翹曲，或者外觀不均勻和變形等不良。 因此，管理HC層的膜厚值很有必要。

膜厚測試儀調校步驟：選擇要調校的產品程式；選擇菜單“調校---調?！遍_始進行“調校”屏幕左下角的指令窗口會出現(xiàn),按“確定”結束調校。

膜厚儀測試時有關輻射安全注意事項

幅射安全方面膜厚儀由于使用X射線管而產生輻射。測量頭的設計完全符合國際X射線安全要求：　　·測量頭控制臺上的一個鑰匙開關通過打開或關閉X射線管上的高壓決定X幅射的產生與否；　　·一個多級故障自動保險互鎖系統(tǒng)可控制X幅射的產生，從而有效保護操作者的安全；　　·如果測量門沒有完全關閉，X幅射就不會進入測量室；　　·足夠的遮罩用來減小外部的幅射量。