大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）

溶液中的粒子會呈現(xiàn)出 依賴于粒徑的布朗運動。因此，當(dāng)光照射到此粒子上而得到的散射光會出現(xiàn)浮動，小粒子浮動速度快，大粒子浮動速度慢。

通過光子相關(guān)法解析這種浮動，從而求出粒徑或粒度分布。

高濃度類樣品的ZETA電位測量原理

因受多重散射或吸收等的影響，用ELSZ series是很難測量光難以透過的濃厚樣品或有色樣品的。

現(xiàn)在，ELSZseries的標(biāo)準(zhǔn)cell可對應(yīng)低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測量。并且，通過采用了FST法*的高濃度類cell，可測量出高濃度樣品的ZETA電位。