大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢！

　膜厚儀最直接的鍍膜操縱方法是石英晶體微量平衡法(QCM)，此法可以直接驅(qū)動(dòng)蒸發(fā)祥，通過(guò)PID控制循環(huán)驅(qū)動(dòng)擋板，保持蒸發(fā)速率。只有將儀器與系統(tǒng)控制軟件相連接，它就可能節(jié)制全體的鍍膜進(jìn)程。然而QCM的正確度是有限的，部分起因是由于它監(jiān)控的是被鍍膜的質(zhì)量而不是其光學(xué)厚度。此外誠(chéng)然QCM在較低溫度下無(wú)比牢固，但溫度較高時(shí)，它會(huì)變得對(duì)溫度非常敏感。在長(zhǎng)時(shí)間的加熱過(guò)程中，很難制止傳感器跌入這個(gè)敏感區(qū)域，從而對(duì)膜層造成重大誤差。

對(duì)于國(guó)內(nèi)眾多真空鍍膜廠家而言，需要在大批量的生產(chǎn)線上就能控制好鍍膜產(chǎn)品的鍍膜層厚度均勻性。那就需要使用膜厚測(cè)試儀，在真空鍍膜生產(chǎn)線上實(shí)行連續(xù)監(jiān)測(cè)，才能保證真空鍍膜產(chǎn)品的質(zhì)量，同時(shí)提高真空鍍膜設(shè)備的在線生產(chǎn)效率，減少生產(chǎn)成本。由于真空鍍鋁薄膜上的鍍鋁層非常薄，因此通常都是需要使用光密度法膜厚測(cè)試儀來(lái)檢測(cè)。光密度（OD）定義為材料遮光能力的表征。它用透光鏡測(cè)量。光密度沒有量綱單位，是一個(gè)對(duì)數(shù)值，通常僅對(duì)鍍鋁薄膜和珠光膜進(jìn)行光密度測(cè)量。

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 膜厚測(cè)試儀的簡(jiǎn)易故障排除 1、燈閃爍：樣品出入門沒有關(guān)好(處理：關(guān)閉樣品出入門)。

2、不能準(zhǔn)確找到測(cè)量點(diǎn)：視頻成相不清晰(處理：用控制器調(diào)節(jié)樣品的測(cè)量位置， 3、視頻窗無(wú)樣品成相顯示：樣品位置放置不正確(處理：正確放置好樣品)。 4、主體與軟件連接不上(處理：重新連接好主體與電腦操作軟件)。 5、電腦操作軟件出錯(cuò)(處理：關(guān)閉儀器，退出軟件程序重新啟動(dòng))。 6、膜厚測(cè)試儀測(cè)量結(jié)果與預(yù)估值相差巨大：測(cè)量程序與樣品成分不符合(處理：重新選擇或者建立與樣品相符合的程序）。

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膜厚儀的特點(diǎn)

　　1、自動(dòng)對(duì)焦作用。配備激光自動(dòng)對(duì)焦作用，能夠準(zhǔn)確對(duì)焦，提高量測(cè)效率。

　　2、具有焦點(diǎn)距離切換作用，適用于有凹凸的機(jī)器部件與電路板的底部進(jìn)行量測(cè)

　　3、 膜厚儀 采用檢量線法和FP法，兩個(gè)準(zhǔn)直器可自動(dòng)切換，采用激光自動(dòng)對(duì)焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對(duì)焦時(shí)造成的損壞。

　　4、選用Mo靶材X射線管，量測(cè)貴金屬更靈敏。