大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

測量項(xiàng)目

? 量子効率（量子收率）測量

? 激勵波長依賴性測量

? 發(fā)光光譜測量

? PL激勵光譜測量

? EEM（Excitation Emission Matrix）測量

用　途

? LED、有機(jī)EL用熒光體的量子効率（量子收率）測量

? 膜狀樣品的透過熒光?反射熒光的量子効率（量子收率）測量

-　非接觸式熒光粉用熒光體樣品等

? 量子Dot、熒光探頭、生體領(lǐng)域、包接化合物等的熒光測量

? 色素敏化型太陽電池的量子効率（量子收率）測量

? 絡(luò)化物化合物的測量

根據(jù)再激勵熒光補(bǔ)正功能，觀察”真正德物性值”

包括再激勵熒光發(fā)光狀態(tài)下，不僅不能觀察材料本身的物性，也不能觀測到包含裝置的特性，無法求出真正的物性值。QE-2000通過利用積分半球的再激勵熒光補(bǔ)正的特點(diǎn)，可簡單的測量出真正的物性值，且精度高。

什么是再激發(fā)熒光發(fā)光.

在熒光體樣品表面上反射的激發(fā)光

在積分球內(nèi)擴(kuò)散和反射并再次進(jìn)入熒光樣品以發(fā)射

更多光的現(xiàn)象。