ICP光譜儀如何保養(yǎng)？

(1)ICP光譜儀使用環(huán)境，與其它大型精密儀器—樣，ICP光譜儀的運(yùn)行也需要在一定的環(huán)境下進(jìn)行，達(dá)不到這些條件，不僅是儀器的使用效果不好，而且還會(huì)改變儀器的檢測性能，甚至造成儀器損壞，影響使用的壽命。

(2)ICP光譜儀的供電，保證儀器運(yùn)行時(shí)，不會(huì)因?yàn)榫€路的電壓降過大，造成儀器損壞，影響儀器壽命。

ICP光譜儀光學(xué)系統(tǒng)的知識

1.單色儀

ARCOS采用焦矩為1米的Czerny Turner單色儀，光柵為高光強(qiáng)、高分辯率、雜散光極低的全息光柵，單色儀的設(shè)計(jì)使其對溫度和壓力的變化都具有的穩(wěn)定性，因此這種光學(xué)系統(tǒng)具有優(yōu)異的分析性能。

2.光柵

使用110mmX80mm大面積的3600刻線/mm的全息光柵，使單色儀的入射光為可利用的較大視角的平行光，提高了光通量，因此提高了穩(wěn)定性和信號強(qiáng)度。光柵在高分辯率的條件下也可采集到足夠的光，短的測量時(shí)間即可滿足需要，從而減少了所需測量的樣品量。由于雜散光極低，顯著提高了，改善了檢出限。如果實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度變化較大，不能保證工作條件，可能造成測量結(jié)果數(shù)據(jù)漂移。

ICP光譜儀是什么構(gòu)成的？

一臺(tái)典型的ICP光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分：

1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。

2. 準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對應(yīng)于一特定波長。

5. 探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

ICP光譜儀的校正方法

分析校正

分析校正是為了讓所測元素濃度與儀器所檢測到的光強(qiáng)度建立起聯(lián)系，就是我們常說的做標(biāo)準(zhǔn)曲線，輸^事先配好的標(biāo)樣值，再讓儀器對其進(jìn)行檢測，讓檢測值與濃度之間建立起關(guān)系曲線，未知樣品濃度按照該曲線及所；其次房間地面應(yīng)該采用防潮處理，工作房間不應(yīng)該選擇樓底，二樓比較合適，平時(shí)地面不應(yīng)該用濕拖把清掃地面，吸塵器或半干拖布來處理。剛得濃度值得出。在ICP—OES的分馓正中，檢測值與濃度之間—般是線性關(guān)系。

在實(shí)際工作中，存在其他元素峰對所測元素峰有干擾的情況時(shí)，可以通過調(diào)節(jié)計(jì)算方法及火焰觀測方式來減小誤差，提高線性相關(guān)系數(shù)。這里需要說明線性相關(guān)系數(shù)是準(zhǔn)確度的必要不充分條件